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試料振動型磁化測定装置（VSM）
- メーカー名
- オックスフォード・インストゥルメンツ(株)
- 型番
- Maglab VSM system
- 仕様
- ・中心磁場：12T
・最大磁場 : ±11.5 T
・測定温度 : 4-300 K
・測定可能磁化範囲 : 10-4-10 emu
・試料寸法 : 最大5mm角程度
・磁場掃引速度 : 1.0 T/min
・振動周波数 : 55 Hz
・振動幅 : 1.5-0.1 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
冷凍機伝導冷却型12T超伝導マグネット装置
- メーカー名
- ジャパン スーパーコンダクタ テクノロジー(株)
- 型番
- JMTD-12T100
- 仕様
- ・提供磁場 : 12 T
・口径 : 100 mm
・回転角：ボア鉛直から水平の90度以上
・4.2Kクライオスタット
・磁場均一度 : 1.5*10-2/40mmDSV
・磁場掃引速度 : 10 T/ 30 min
・4K-GM冷凍機ユニット付属
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
大口径17Tマグネット
- メーカー名
- ジャパン スーパーコンダクタ テクノロジー(株)
- 型番
- F015
- 仕様
- ・最大磁場：17T
・口径：129mm（コールドボア）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
強磁場光学測定システム
- メーカー名
- クライオジェニック
- 型番
- －
- 仕様
- パルス磁場
・中心磁場 : 40 T
・口径：30 mm
・パルス幅1msec
・1分間隔で磁場発生可
定常磁場
・中心磁場 : 15 T
・口径：52 mm
・ヘリウム4温度可変クライオスタット(試料空間42mm)
・磁場均一度：2×10-4/10mmDSV
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 強磁場計測ユニット
XRD（粉末）
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- RINT-Ultima III
- 仕様
- ・粉末測定
・フォーカスビーム、パラレルビーム
・キャピラリーホルダー
・高温チャンバー
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
薄膜X線回折装置_Cu
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- SmartLab
- 仕様
- ・薄膜測定
・小角散乱測定
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
エリプソメーター [MARY-102FM]
- メーカー名
- ファイブラボ
- 型番
- MARY-102FM
- 仕様
- ・光源：632nm He-Neレーザー
・ビーム径：0.8mm
・入射角：50°，60°，70°
・試料サイズ：最大φ6インチ
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
分光エリプソメーター [M2000]
- メーカー名
- J.A.Woollam
- 型番
- M-2000U
- 仕様
- ・波長範囲：250～1000 nm
・補償子：回転式
・入射角：自動制御、45～90°
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
顕微分光膜厚計 [F54-XY-200-UV]
- メーカー名
- フィルメトリクス株式会社
- 型番
- F54-XY-200-UV
- 仕様
- 【遠隔利用可】
光源：重水素ハロゲンランプ
波長：190-1100nm
測定膜厚範囲：5nm以下～30um
試料サイズ：最大φ8インチ
その他：自動マッピング、顕微式、遠隔利用可能
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
薄膜応力測定装置 [FLX-2000-A]
- メーカー名
- 東朋テクノロジー
- 型番
- FLA-2000-A
- 仕様
- ・測定方式：レーザースキャン方式(670nm&750nm半導体レーザー）
・測定範囲：1～4000MPa
・測定再現性：1.3MPa（1σ）
・試料サイズ：φ3インチ, φ6インチ, φ8インチ
・その他：3Dマッピング機能
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
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