1. ホーム>
  2. 共用設備検索

共用設備

共用設備検索結果

さらに絞り込む

※装置名をクリックすると詳細情報が閲覧できます

フーリエ変換赤外分光光度計(IRAffinity-1S)

メーカー名
島津製作所
型番
IRAffinity-1S/AIM-9000
仕様
<IRAffinity-1s使用時>
・ATR法 / 透過法
・波数範囲:7800~400 cm-1(DLATGS検出器)
・ATRプリズム:ダイヤモンド(屈折率2.4)

<AIM-9000使用時(赤外顕微)>
・ATR法 / 透過法 / 反射法
・波数範囲:
  TGS検出器:400~4000 cm-1
  MCT検出器:700~4000cm-1
・ATRプリズム:Ge(屈折率4.2)
料金案内
NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

2波長Pilatus低温単結晶X線回折装置_NSC

メーカー名
(株)リガク
型番
VariMax DW with Saturn
仕様
・X線波長:MoもしくはCu(自動切り替え)
・高輝度X線源:試料部輝度 31 kW/mm2
・X線検出器:高感度・低ノイズ型半導体検出器PILATUS200K
・角度分解能可変:カメラ長 40~115 mm
料金案内
NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

温度可変型粉末X線回折装置_Cu1_NTS

メーカー名
(株)リガク
型番
SmartLab (9 kW) with cryostat/furnace
仕様
・高輝度X線発生装置:最大出力9 kW
・X線波長:Cu Kα1
・X線検出器:高性能1次元型半導体検出器(D/teX ULTRA 250)
・試料部:試料水平型
・低温装置:2.6 K~室温(真空)
・高温装置:室温~1500℃(空気、He、N2、O2、Ar、真空)
料金案内
NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

高速・高感度型粉末X線回折装置_Cu_ASC_NS3

メーカー名
(株)リガク
型番
SmartLab3
仕様
・X線発生装置:最大出力3.0 kW
・X線波長:Cu Kα
・X線検出器:1次元型半導体式
・試料部:試料水平型
・6連自動試料交換機
料金案内
NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

多環境場対応型X線単結晶構造解析装置

メーカー名
リガク
型番
XtaLAB SynergyCustom DW
仕様
金属・セラミックス・有機物など試料の精密結晶構造解析、電子密度解析が可能
1. X線発生装置:最大出力2.97 kW
2. X線波長:Mo Ka、Cu Ka
3. X線検出器:2次元型半導体式
4. ガス吹付型低温装置(最低:20 K、Heガス使用時)
5. ガス吹付型高温装置(最高:1073 K)
6. XRF用プローブ(最低元素:P)
料金案内
NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC1

メーカー名
(株)リガク
型番
MiniFlex600-Cu
仕様
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cu Kα
・試料部:試料水平型
・X線検出器:1次元型半導体式
・6連自動試料交換機
料金案内
NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC2

メーカー名
リガク
型番
MiniFlex600-Cu_N2
仕様
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cu Ka
・試料部:試料水平型
・X線検出器:1次元型半導体式
・6連自動試料交換機
料金案内
NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

薄膜X線回折装置_Cu

メーカー名
(株)リガク
型番
SmartLab
仕様
・薄膜測定
・小角散乱測定
・X線反射率
料金案内
NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

誘導結合プラズマ発光分析装置(高分解能型)(SPS3520UV-DD)

メーカー名
(株)日立ハイテクサイエンス
型番
SPS3520UV-DD
仕様
・プラズマ観測方向:ラジアル
・分光器:ツェルニ・ターナ型
・検出器:光電子倍増管型
・測定波長範囲:185~850 nm(L分光器)、130~460 nm(第2分光器)
・プラズマ・イオン種:Ar
・プラズマ周波数:27 MHz
・RF出力:~1.6 kW
料金案内
NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

硬X線光電子分光分析装置(HAX-PES/XPS)

メーカー名
アルバックファイ
型番
PHI Quantes
仕様
・単色化2X線線源
  硬X線(Cr Kα線)
  軟X線(Al Kα線)
・ガスクラスターイオン銃(GCIB)
・温度制御範囲:-120~800℃
・試料電圧印可オプション(温度変化可)
・トランスファーベッセル付属
料金案内
NOF利用料金表
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

"並木(つくば)"で検索した結果  37件

スマートフォン用ページで見る