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精密イオン研磨装置(セラミックス試料作製装置群)

メーカー名
ガタン
型番
695PIPS II
仕様
・イオンビームエネルギー: 0.1~8 keV
・試料冷却が可能
・観察用デジタルズームカメラ付属
機器利用単価
大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
中小企業5,500円/時間
大企業11,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡ユニット

小型精密切断器(セラミックス試料作製装置群)

メーカー名
TECHNOORG-LINDA
型番
MS2 MICROSAW
仕様
・50mmダイヤモンド回転刃
機器利用単価
大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
中小企業5,500円/時間
大企業11,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡ユニット

卓上研磨機(セラミックス試料作製装置群)

メーカー名
マルトー
型番
ML-180 DoctorLap
仕様
・研磨回転数: 50~500 rpm
機器利用単価
大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
中小企業5,500円/時間
大企業11,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡ユニット

ディンプルグラインダ(セラミックス試料作製装置群)

メーカー名
ガタン
型番
656 DimpleGrinder
仕様
・研磨ホイール経: 15 mm
・研磨荷重: 0~40 g
・自動停止機構付属
機器利用単価
大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
中小企業5,500円/時間
大企業11,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡ユニット

無損傷電子顕微鏡試料薄片化装置

メーカー名
フィッシオーネ
型番
Model 1040 Nanomill
仕様
・イオン:アルゴン
・イオンエネルギー:50~2000eV 可変
・イオン電流:1mA/cm2

・イオンビームサイズ:2μm

機器利用単価
大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
中小企業5,500円/時間
大企業11,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡ユニット

走査型プローブ顕微鏡 [L-trace]

メーカー名
SII ナノテクノロジー(株)
型番
L-Trace
仕様
・測定モード:コンタクトAFM、タッピングAFM、摩擦力顕微鏡
・走査範囲:水平100 x 100 um
・最大試料サイズ: 6インチφ
・付加機能:I-V測定及びマッピング
機器利用単価
大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
中小企業5,500円/時間
大企業11,000円/時間
問い合わせ先部署
微細加工ユニット

走査型プローブ顕微鏡 [Nanoscope5]

メーカー名
ブルカージャパン(株)
型番
Nanoscope 5
仕様
【測定モード】
Contact AFM , Tapping AFM , MFM, Electro chemical , STM , Liquid-phase AFM.
【Scanner】
17µ/1.3µ
機器利用単価
大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
中小企業5,500円/時間
大企業11,000円/時間
問い合わせ先部署
微細加工ユニット

フーリエ変換赤外分光光度計(IRAffinity-1S)

メーカー名
島津製作所
型番
IRAffinity-1S/AIM-9000
仕様
・波数範囲:350~7800 cm-1
・最小分解能:0.5cm-1
・DLATGS検出器
・赤外顕微鏡
機器利用単価
大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
中小企業5,500円/時間
大企業11,000円/時間
問い合わせ先部署
表面・バルク分析ユニット

レーザー顕微鏡 [VK-9700]

メーカー名
キーエンス
型番
VK9-9700G
仕様
【測定項目】Surface roughness, Height, Thickness of transparent film
機器利用単価
大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
中小企業5,500円/時間
大企業11,000円/時間
問い合わせ先部署
微細加工ユニット

触針式プロファイラー [Dektak 6M]

メーカー名
ブルカージャパン(株)
型番
DekTak 6M
仕様
・垂直分解能:0.1 nm
・最大垂直測定幅:262 µm
・測定長さ:50 µm~30 mm
機器利用単価
大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
中小企業5,500円/時間
大企業11,000円/時間
問い合わせ先部署
微細加工ユニット

"並木(つくば)"で検索した結果  49件

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