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2波長Pilatus低温単結晶X線回折装置_NSC
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- VariMax DW with Saturn
- 仕様
- ・X線波長：MoもしくはCu（自動切り替え）
・高輝度X線源：試料部輝度 31 kW/mm2
・X線検出器：高感度・低ノイズ型半導体検出器PILATUS200K
・角度分解能可変：カメラ長 40～115 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
温度可変型粉末X線回折装置_Cu1_NTS
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- SmartLab (9 kW) with cryostat/furnace
- 仕様
- ・高輝度X線発生装置：最大出力9 kW
・X線波長：Cu Kα1
・X線検出器：高性能1次元型半導体検出器（D/teX ULTRA 250）
・試料部：試料水平型
・低温装置：2.6 K～室温（真空）
・高温装置：室温～1500℃（空気、He、N2、O2、Ar、真空）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
高速・高感度型粉末X線回折装置_Cu_ASC_NS3
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- SmartLab3
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力3.0 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
・試料部：試料水平型
・６連自動試料交換機
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
多環境場対応型X線単結晶構造解析装置
- メーカー名
- リガク
- 型番
- XtaLAB SynergyCustom DW
- 仕様
- 金属・セラミックス・有機物など試料の精密結晶構造解析、電子密度解析が可能
1. X線発生装置：最大出力2.97 kW
2. X線波長：Mo Ka、Cu Ka
3. X線検出器：2次元型半導体式
4. ガス吹付型低温装置（最低：20 K、Heガス使用時）
5. ガス吹付型高温装置（最高：1073 K）
6. XRF用プローブ（最低元素：P）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC1
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- MiniFlex600-Cu
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Kα
・試料部：試料水平型
・X線検出器：1次元型半導体式
・６連自動試料交換機
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC2
- メーカー名
- リガク
- 型番
- MiniFlex600-Cu_N2
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Ka
・試料部：試料水平型
・X線検出器：1次元型半導体式
・６連自動試料交換機
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
XRD（粉末）
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- RINT-Ultima III
- 仕様
- ・粉末測定
・フォーカスビーム、パラレルビーム
・キャピラリーホルダー
・高温チャンバー
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
薄膜X線回折装置_Cu
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- SmartLab
- 仕様
- ・薄膜測定
・小角散乱測定
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
誘導結合プラズマ発光分析装置（高分解能型）（SPS3520UV-DD）
- メーカー名
- (株)日立ハイテクサイエンス
- 型番
- SPS3520UV-DD
- 仕様
- ・プラズマ観測方向：ラジアル
・分光器：ツェルニ・ターナ型
・検出器：光電子倍増管型
・測定波長範囲：185～850 nm（L分光器）、130～460 nm（第2分光器）
・プラズマ・イオン種：Ar
・プラズマ周波数：27 MHz
・RF出力：～1.6 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
硬X線光電子分光分析装置（HAX-PES/XPS）
- メーカー名
- アルバックファイ
- 型番
- PHI Quantes
- 仕様
- ・硬X線（Cr Ka線）と軟X線（Al Ka線）の単色化２線源を搭載
・ガスクラスターイオン銃(GCIB)
・加熱・冷却・電圧印加機構搭載
・トランスファーベッセル付属
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
"並木（つくば）"で検索した結果 49件