What's New

2023年12月1日: NIMS Open Facility、新規登録のお知らせ（2023(令和5)年12月）
2023/12/1 NOF共用装置の新規登録のお知らせ
2023/10/1 NOF共用装置の新規登録及び設備削除のお知らせ
2023/4/1 組織編成に伴い、設備管理部署名変更、設備移設、設備登録、登録解除のお知らせ

2023年10月1日: NIMS Open Facility、新規登録、登録削除のお知らせ（2023(令和5)年10月）
2023/4/1 組織編成に伴い、設備管理部署名変更、設備移設、設備登録、登録解除のお知らせ
2023/10/1 NOF共用装置の新規登録及び設備削除のお知らせ

2023年9月14日: 公益社団法人日本金属学会　2023年秋期(第173回）講演大会に出展します

2023年7月13日: 夏季休暇取得奨励期間のお知らせ

2023年6月9日: 2023年度NIMS Open Facilityユーザースクールの申込受付を開始します

2023年4月1日: NIMS Open Facility、新規登録、登録削除のお知らせ（2023(令和5)年4月）
2023/4/1 組織編成に伴い、設備管理部署名変更、設備移設、設備登録、登録解除のお知らせ

2023年3月14日: 【重要】NOF共用装置ご利用料金のお支払方法変更のお知らせ
2023/3/13＝NOF共用装置ご利用になる中小企業様へのお知らせ
2023/3/14＝NOF共用装置ご利用時の利用料金形態変更のお知らせ

2023年3月14日: 【重要】NOF共用装置をご利用になる方々へのお知らせ
2023/3/13＝NOF共用装置ご利用になる中小企業様へのお知らせ

2023年3月1日: NIMS Open Facility 設備の装置名称変更、登録削除のお知らせ（2023(令和5)年3月）

2023年1月11日: NIMS Open Facility 装置名称変更、新規登録、登録削除のお知らせ（2023(令和5)年1月）
2023/1/6=装置名称変更(56件)、装置新規登録(3件)、装置の認定解除(2件)のお知らせ
2022/10/13＝200kV透過電子顕微鏡(Talos F200X G2)、800MHzワイドボア固体高分解能NMRシステムの
　　　　　　新規登録を実施した。
2022/10/1＝TEM試料自動作製FIB-SEM複合装置(電子顕微鏡解析ST)の新規登録実施した。
　　　　　集束イオンビーム加工装置(FB-2000S)(電子顕微鏡ST) 認定解除を実施した。
　　　　　円二色性分光器　→円二色性分散計　(ナノ融合STナノバイオ)装置名を変更しました。　
2022/9/7＝クリーンルーム付帯設備を新規登録しました。(ナノ融合並木ファウンドリ)
2022/9/1＝カテ1,2装置の新規登録、登録解除のお知らせ
2022/08/01　材料分析StX線回析Gの下記2台を新規登録しました。
　　　　　　・卓上型粉末回折計-Cu_N2 【X線回析】
　　　　　　・走査型硬X線光電子分光分析装置【元素分析、成分分析】
2022/08/01　ナノ融合St並木F(装置8台)及び材料分析St表面・微小領域分析G(2台)を登録解除しました。
　　　　　・XPS(X線光電子分光装置) Quantum-2000 【元素分析】
　　　　　・パルスレーザー堆積装置【微細加工】
　　　　　・ナノインプリント装置【微細加工】
　　　　　・RTA（赤外線急速アニール炉：20mm）　　　　　【微細加工】
　　　　　・シリコン酸化炉【微細加工】　　
　　　　　・冷却遠心機【物性評価】
　　　　　・顕微ラマン分光計【物性評価】
　　　　　・紫外可視近赤外分光計V-570 【物性評価】
　　　　　・走査型オージェ電子分光分析装置 (PHI 680) 【元素分析】
　　　　　・電子線プローブマイクロアナライザー装置（JXA-8900RL）【元素分析】
2022/9/1　100kV 電子ビーム描画装置　　【微細加工】

2022年11月30日: NIMS Open Facility 設備の新規登録、登録削除のお知らせ（2022(令和4)年10月）
2022/10/13＝200kV透過電子顕微鏡(Talos F200X G2)、800MHzワイドボア固体高分解能NMRシステムの
　　　　　　新規登録を実施した。
2022/10/1＝TEM試料自動作製FIB-SEM複合装置(電子顕微鏡解析ST)の新規登録実施した。
　　　　　集束イオンビーム加工装置(FB-2000S)(電子顕微鏡ST) 認定解除を実施した。
　　　　　円二色性分光器　→円二色性分散計　(ナノ融合STナノバイオ)装置名を変更しました。　
2022/9/7＝クリーンルーム付帯設備を新規登録しました。(ナノ融合並木ファウンドリ)
2022/9/1＝カテ1,2装置の新規登録、登録解除のお知らせ
2022/08/01　材料分析StX線回析Gの下記2台を新規登録しました。
　　　　　　・卓上型粉末回折計-Cu_N2 【X線回析】
　　　　　　・走査型硬X線光電子分光分析装置【元素分析、成分分析】
2022/08/01　ナノ融合St並木F(装置8台)及び材料分析St表面・微小領域分析G(2台)を登録解除しました。
　　　　　・XPS(X線光電子分光装置) Quantum-2000 【元素分析】
　　　　　・パルスレーザー堆積装置【微細加工】
　　　　　・ナノインプリント装置【微細加工】
　　　　　・RTA（赤外線急速アニール炉：20mm）　　　　　【微細加工】
　　　　　・シリコン酸化炉【微細加工】　　
　　　　　・冷却遠心機【物性評価】
　　　　　・顕微ラマン分光計【物性評価】
　　　　　・紫外可視近赤外分光計V-570 【物性評価】
　　　　　・走査型オージェ電子分光分析装置 (PHI 680) 【元素分析】
　　　　　・電子線プローブマイクロアナライザー装置（JXA-8900RL）【元素分析】
2022/9/1　100kV 電子ビーム描画装置　　【微細加工】