ユーザースクール

飛行時間型二次イオン質量分析（TOF-SIMS）

プログラム概要

対象	初級者
講習形式	座学と実習
開催日	2025年10月20日(月)
時間	13:30-17:30
定員	4名
開催場所	千現地区
内容	TOF-SIMSを用いた微量元素分析に興味がある方を対象に基礎的な座学及び実際の装置を使った計測を学んで頂く講座です。（試料持ち込み不可）