共用設備検索結果
"形状測定"で検索した結果 9件
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FE-SEM（SU8230）＋EDX
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- SU8230
- 仕様
- ・冷陰極電界放出電子銃
・分解能：0.8 nm (15 kV) , 1.1 nm (1 kV)
・付加機能：EDX、反射電子検出器、簡易STEM(明.暗視野)
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
FE-SEM(S-4800)+EDX
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ / 堀場製作所
- 型番
- S4800 / X-MAX 80
- 仕様
- ・加速電圧:0.5～30kV ,
・最大倍率:800k ,
・検出器:SE/BSE
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
FE-SEM(SU8000)+EDX
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ / Bruker
- 型番
- SU8000 / Quantax FQ5060
- 仕様
- ・加速電圧: 0.5～5kV ,
・最大倍率:800k ,
・加速電圧:SE/BSE
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
ミニSEM+EDX
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ / Bruker
- 型番
- TM3000
- 仕様
- ・反射電子観察
・最大倍率: 50000
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
透過電子顕微鏡
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JEM2100F
- 仕様
- 加速電圧：200kV
分解能：0.1nm
スポットサイズ：0.2nm
【付加機能】
・EDX
・STEM
・STEM-EELS
・Ion cleaner
- 機器利用単価
- 大学・公的機関12,000円/時間
- 中小企業20,000円/時間
- 大企業40,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
AFM（原子間力顕微鏡）
- メーカー名
- SII ナノテクノロジー(株)
- 型番
- L-Trace
- 仕様
- ・測定モード：コンタクトAFM、タッピングAFM、摩擦力顕微鏡
・走査範囲：水平100 x 100 um
・最大試料サイズ： 6インチφ
・付加機能：I-V測定及びマッピング
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
表面段差計
- メーカー名
- Bruker/アルバック
- 型番
- DekTak 6M
- 仕様
- ・垂直分解能：0.1 nm
・最大垂直測定幅：262 µm
・測定長さ：50 µm～30 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
触針式表面段差計
- メーカー名
- ヤマト科学(株)（KLA Tencor）
- 型番
- Alpha Step IQ
- 仕様
- ・走査距離：10mm
・最大段差測定：400um
・試料サイズ：最大φ6インチ
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （千現ファウンドリ/微細加工PF）
高精度三次元座標測定機
- メーカー名
- 株式会社 ミツトヨ
- 型番
- CRYSTA-Apex S9106
- 仕様
- 測定範囲：X900mm×Y1000mm×Z600mm、測定物最大積載量：1200kg、
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料創製・加工ステーション
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