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多環境場対応型X線単結晶構造解析装置
- メーカー名
- リガク
- 型番
- XtaLAB SynergyCustom DW
- 仕様
- 金属・セラミックス・有機物など試料の精密結晶構造解析、電子密度解析が可能
1. X線発生装置:最大出力2.97 kW
2. X線波長:Mo Ka、Cu Ka
3. X線検出器:2次元型半導体式
4. ガス吹付型低温装置(最低:20 K、Heガス使用時)
5. ガス吹付型高温装置(最高:1073 K)
6. XRF用プローブ(最低元素:P)
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
走査型硬X線光電子分光分析装置
- メーカー名
- アルバックファイ
- 型番
- PHI Quantes
- 仕様
- ・硬X線(Cr Ka線)と軟X線(Al Ka線)の単色化2線源を搭載
・ガスクラスターイオン銃(GCIB)
・加熱・冷却・電圧印加機構搭載
・トランスファーベッセル付属
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JXA-8500F
- 仕様
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧:1~30 kV
・照射電流:10 pA ~500 nA
・測定可能元素:Be~U
・最大試料サイズ:100 x 100 x 50 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
誘導結合プラズマ発光(分光)分析装置(マルチ型)
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー(株)
- 型番
- 720 ICP-OES
- 仕様
- ・プラズマ観測方向:アキシャル
・分光器:エシェルクロス分散ポリクロメータ
・検出器:CCD検出器
・測定波長範囲:167~785 nm
・プラズマ・イオン種:Ar
・プラズマ周波数:40 MHz
・RF出力:~1.5 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
誘導結合プラズマ発光(分光)分析装置(高分解能型)
- メーカー名
- (株)日立ハイテクサイエンス
- 型番
- SPS3520UV-DD
- 仕様
- ・プラズマ観測方向:ラジアル
・分光器:ツェルニ・ターナ型
・検出器:光電子倍増管型
・測定波長範囲:185~850 nm(L分光器)、130~460 nm(第2分光器)
・プラズマ・イオン種:Ar
・プラズマ周波数:27 MHz
・RF出力:~1.6 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
誘導結合プラズマ発光分光分析装置(マルチ型・デュアルビュー)
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー株式会社
- 型番
- Agilent5800
- 仕様
- ・プラズマ観測方向;アキシャル、ラジアルに切替可
・分光器:エシェルクロス分散ポリクロメータ
・検出器:CCD検出器
・測定波長範囲:167~785 nm
・プラズマ・イオン種:Ar
・プラズマ周波数:27 MHz
・RF出力:~1.5 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
微小部蛍光X線分析装置
- メーカー名
- アメテック株式会社
- 型番
- ORBIS PC
- 仕様
- ・X線源:マイクロフォーカス型Rh管球
・X線出力:電圧~50 kV、電流~1 mA
・X線集光部:30 μm径ポリキャピラリー
・X線検出器:液体窒素レス型SSD検出器
・測定可能元素種:Na~U
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
走査型オージェ電子分光分析装置
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JAMP-9500F
- 仕様
- ・ショットキー電界放射電子銃
・空間分解能:<8 nm
・加速電圧:0.5~30 kV
・照射電流:0.1~100 nA
・測定元素:Li~U
・最大試料サイズ:14 x 14 x 5 mm
・半球型アナライザー搭載
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
X線光電子分光分析装置
- メーカー名
- アルバック・ファイ(株)
- 型番
- Quantera SXM
- 仕様
- ・走査型単色Al Kα集束X線源
・最小X線ビーム径:<10 µm
・X線源パワー:1~100 W
・エネルギー分解能:<0.5 eV(Ag 3d5/2)
・最大試料サイズ: 60 x 60 x 5 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
酸素窒素水素分析装置、炭素硫黄分析装置
- メーカー名
- LECOジャパン合同会社
- 型番
- ONH836、CS844
- 仕様
- [酸素・窒素・水素分析装置]
加熱方式:インパルス加熱
検出方式:赤外線検出方式/熱伝導度検出方式
分析範囲:
[酸素]10 ppm~3%
[窒素]10 ppm~3%(試料重量1 g時)
[水素]10 ppm~2500 ppm(試料重量1 g時)
[炭素・硫黄分析装置]
加熱方式:高周波加熱炉
検出方式:赤外線検出方式
分析範囲:
[炭素]10 ppm~6%
[硫黄]10 ppm~6%(試料重量1 g時)
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット