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"質量分析"で検索した結果 4件
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四重極型ICP質量分析装置
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー株式会社
- 型番
- Agilent7850
- 仕様
- 1. 高周波電源部
周波数：27 MHz 出力：1600 W
2. 試料導入部
マスフローコントロールガス制御
高マトリックス対応スプレーチャンバー
ペリスタポンプ（3連）
3. インターフェース部
コーン：ニッケル、白金
4. 真空システム
3段差動排気
5. コリジョンリアクションセル
Heガス対応
6. 質量分析計
四重極型
分解能：0.3-1.0 u
質量分析範囲：2～260 u
7. 検出部
90度偏向型二次電子増倍管
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
二重収束型ICP質量分析装置（ELEMENT XR）
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- ELEMENT XR
- 仕様
- ・質量分析器：逆Nier-Johnson配置二重収束型
・検出器：イオンカウンティングファラデーカップ
・質量分析範囲：7～240 amu
・プラズマ・イオン種：Ar
・プラズマ周波数：27.1 MHz
・RF出力：～2.0 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS）
- メーカー名
- アルバック・ファイ(株)
- 型番
- PHI TRIFT V nanoTOF
- 仕様
- ・Biクラスターイオンビーム
・加速電圧：30 kV
・空間分解能：<100 nm（低質量分析）、<1.0 μm（高質量分析）
・質料分解能：>11,000（低質料分子イオン：SiH+等）、>15,000（高質量分子イオン：＞200 Da）
・ 深さ方向分析用スパッタビーム：Biイオン、Arイオン、またはO2イオンを選択可能
・ 2D/3D分析可能
・トリプルフォーカス静電アナライザ搭載
・トランスファーベッセル
・最大試料サイズ： φ20 x 5 mm（標準ホルダー）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関9,000円/時間
- 中小企業15,000円/時間
- 大企業30,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
マルチガス導入グロー放電質量分析システム（VG9000）
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- VG9000
- 仕様
- ・質量分析器：Nier-Johnson配置二重収束型
・イオン検出器：ファラデー検出器、イオン計数デイリー検出器
・質量分析範囲：7～240 amu
・プラズマ・イオン種：Ar、He
・液体窒素冷却型試料冷却システム
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
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