共用設備検索結果
"光学顕微鏡"で検索した結果 8件
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液中原子間力顕微鏡
- メーカー名
- ブルカージャパン株式会社
- 型番
- NanoWizard 4 XP
- 仕様
- 【AFM測定】
・測定環境：大気中、液中
・走査範囲：水平100µm、垂直15µm
・動作モード：コンタクトモード、タッピングモード、フォースカーブマッピングモード、粘弾性測定、MFM観察
【直上顕微鏡】
・観察倍率：10倍
【倒立顕微鏡】
・観察法：明視野、位相差、蛍光
・対物レンズ：10倍、40倍
【その他】
・温度制御：室温～+60℃まで
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- バイオ分析ユニット
ラマン顕微鏡
- メーカー名
- レニショー Renishaw
- 型番
- inVia Reflex
- 仕様
- ・レーザー波長：532nm及び785nm
・波数分解能：0.3cm-1
・空間分解能：水平0.25µm、垂直1µm
・対物レンズ：5倍、20倍、50倍、63倍(水浸)、100倍
・温度制御：-196～600℃
【特徴】
・ラインレーザー照射による高速ラマンイメージング。
・繋ぎ目のない連続した広い波数範囲のスペクトル測定。
・共焦点機構による高い空間分解能。
【備考】特になし
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- バイオ分析ユニット
フーリエ変換赤外分光光度計
- メーカー名
- 島津製作所
- 型番
- IRAffinity-1S/AIM-9000
- 仕様
- ・波数範囲：350～7800 cm-1
・最小分解能：0.5cm-1
・DLATGS検出器
・赤外顕微鏡
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
レーザーマイクロダイセクションシステム
- メーカー名
- ライカマイクロシステムズ
- 型番
- LMD7000
- 仕様
- ・電動正立顕微鏡 ダイオードUVレーザー(355nm)
・対物レンズ 1.25ｘ6.3ｘ10ｘ20ｘ40ｘ
・観察法 明視野、10ｘ以上は位相差
・微分干渉対応
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- バイオ分析ユニット
レーザー顕微鏡 [LEXT OLS4000]
- メーカー名
- オリンパス
- 型番
- LEXT OLS4000
- 仕様
- ・光源 405nm半導体レーザー
・分解能 XY：0.12um／Z：0.01um
・繰り返し性 XY：3σ=0.02um,／Z：1σ=0.012um（対物レンズ100倍時）
・観察モード レーザー観察，白色光明視野，微分干渉観察
・試料サイズ 100mm角以下
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
共焦点レーザー走査型蛍光顕微鏡
- メーカー名
- ライカマイクロシステムズ
- 型番
- SP5
- 仕様
- ・対物レンズ タンデム仕様（高速／高解像）10ｘ20ｘ40ｘ63ｘ
・高速モード撮影時 秒/250コマ撮影
・高解像モード撮影時 8000×8000撮影が可能
・励起光源： 405nm, 458nm, 476nm, 488nm, 514nm, 543nm, 633nm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- バイオ分析ユニット
レーザー顕微鏡 [VK-9700]
- メーカー名
- キーエンス
- 型番
- VK9-9700G
- 仕様
- 【測定項目】Surface roughness, Height, Thickness of transparent film
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
蛍光分光計（Fluorolog-3）
- メーカー名
- 堀場製作所
- 型番
- Fluorolog-3
- 仕様
- ・波長分解能 1.5nm
・波長範囲は、600-1400nm
・高感度光電子増倍管(PMT)検出器
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
"光学顕微鏡"で検索した結果 8件