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共用設備

共用設備検索結果

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液中原子間力顕微鏡

メーカー名
ブルカージャパン株式会社
型番
NanoWizard 4 XP
仕様
【AFM測定】
・測定環境:大気中、液中
・走査範囲:水平100µm、垂直15µm
・動作モード:コンタクトモード、タッピングモード、フォースカーブマッピングモード、粘弾性測定、MFM観察
【直上顕微鏡】
・観察倍率:10倍
【倒立顕微鏡】
・観察法:明視野、位相差、蛍光
・対物レンズ:10倍、40倍
【その他】
・温度制御:室温~+60℃まで
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (ナノバイオ)

走査型プローブ顕微鏡 [Jupiter XR]

メーカー名
オックスフォード・インストゥルメンツ Oxford Instruments
型番
Jupiter XR
仕様
・測定モード:形状測定、メカニカル測定、電気測定、磁気測定、等
・走査範囲:90μm
・ステージ可動範囲:200mm角
・試料サイズ:最大φ8インチ

【特徴】・高速スキャン ・広域アクセス ・多様なイメージングモード ・光熱励振タッピング
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (ナノファブリケーション)

走査プローブ顕微鏡

メーカー名
日本電子株式会社
型番
JSPM-5200
仕様
コンタクトモード、AC モード、ノンコンタクトモードが使用可能。真空中の測定も可能。
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

走査型プローブ顕微鏡 [L-trace]

メーカー名
SII ナノテクノロジー(株)
型番
L-Trace
仕様
・測定モード:コンタクトAFM、タッピングAFM、摩擦力顕微鏡
・走査範囲:水平100 x 100 um
・最大試料サイズ: 6インチφ
・付加機能:I-V測定及びマッピング
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (ナノファブリケーション)

走査型プローブ顕微鏡 [Nanoscope5]

メーカー名
ブルカージャパン(株)
型番
Nanoscope 5
仕様
【測定モード】
Contact AFM , Tapping AFM , MFM, Electro chemical , STM , Liquid-phase AFM.
【Scanner】
17µ/1.3µ
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (ナノファブリケーション)
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