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共用設備

共用設備検索結果

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触針式プロファイラ Stylus Profiler

メーカー名
ブルカージャパン Bruker
型番
Dektak XT-A
仕様
・分解能:1Å(6.5μmレンジ)
・走査距離:55mm
・触圧範囲:0.03-15mg
・試料サイズ:最大φ8インチ
・その他:自動ステージ、3Dマップ・粗さ・ストレス測定
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (千現ファウンドリ/微細加工プラットフォーム)

水蒸気プラズマ洗浄装置

メーカー名
サムコ株式会社
型番
AQ-500
仕様
・高周波出力:50-250W
・反応ガス:H2O,O2
・自動運転プログラム
・試料サイズ:最大φ8インチ
・水蒸気プラズマによる還元、洗浄、樹脂接合、親水化処理が可能
・酸素ガスを添加することにより、還元雰囲気でのアッシングが可能
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (千現ファウンドリ/微細加工プラットフォーム)

NMR

メーカー名
日本電子(株)
型番
ECS-400
仕様
【遠隔利用可】
・共鳴周波数400MHz
・溶液サンプル専用
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (ナノバイオ/分子・物質合成プラットフォーム)

高輝度・高感度型粉末X線回折装置

メーカー名
(株)リガク
型番
SmartLab (9 kW)
仕様
・高輝度X線発生装置:最大出力9 kW
・X線波長:Cu Kα
・X線検出器:ハイブリッドピクセルアレイ検出器(HyPix-3000)
・試料部:試料水平型
・低温装置:-170 ℃~600 ℃(真空、N2)
・高温装置:室温~1000 ℃(真空)
・極点図測定
・残留応力測定
・引張応力下でのX線回折測定(最大荷重5 N)
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

簡易型粉末X線回折装置

メーカー名
(株)リガク
型番
MiniFlex600
仕様
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cu Kα
・X線検出器:1次元型半導体式
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

簡易型粉末回折計-Cr

メーカー名
(株)リガク
型番
MiniFlex600-Cr
仕様
・X線発生装置:最大出力0.6 kW
・X線波長:Cr Kα
・試料部:試料水平型
・X線検出器:1次元型半導体式
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置

メーカー名
日本電子(株)
型番
JXA-8500F
仕様
・電界放出形電子銃
・加速電圧:1~30 kV
・照射電流:10 pA ~500 nA
・測定可能元素:Be~U
・最大試料サイズ:100 x 100 x 50 mm
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

電子線プローブマイクロアナライザー装置

メーカー名
日本電子(株)
型番
JXA-8900RL
仕様
・Wフィラメント電子銃
・加速電圧:0.2~40 kV
・照射電流:1 pA ~10 µA
・波長分散型X線分光器:5基搭載
・測定可能元素:Be~U
・最大試料サイズ:100 x 100 x 50 mm
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

誘導結合プラズマ発光分析装置(マルチ型)

メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
型番
iCAP6300
仕様
・プラズマ観測方向:アキシャル、ラジアル
・分光器:エシェル型
・検出器:CID半導体型
・測定波長範囲:167~847 nm
・プラズマ・イオン種:Ar
・プラズマ周波数:27.12 MHz
・RF出力:~1.5 kW
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

誘導結合プラズマ発光(分光)分析装置(マルチ型)

メーカー名
アジレント・テクノロジー(株)
型番
720 ICP-OES
仕様
・プラズマ観測方向:アキシャル
・分光器:エシェルクロス分散ポリクロメータ
・検出器:CCD検出器
・測定波長範囲:167~785 nm
・プラズマ・イオン種:Ar
・プラズマ周波数:40 MHz
・RF出力:~1.5 kW
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション
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