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楔形研磨装置（TEM試料作製装置群）
- メーカー名
- Allied
- 型番
- ー
- 仕様
- ・試料傾斜角度: 0～10°
・研磨盤回転速度: 5～350 rpm
・試料研磨荷重: 0～600 g
・研磨量をコントロールできる精密マイクロメーター付き
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
ディンプルグラインダー（TEM試料作製装置群）
- メーカー名
- Gatan
- 型番
- Model 656
- 仕様
- ・試料研磨ホイール径: 15 mm
・試料研磨荷重: 0～40 g
・研磨ホイル回転速度: 0〜600 rpm
・初期試料厚さ: 200 µm以下
・自動停止機構付き
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
TEM試料作製補助装置群（TEM試料作製装置群）
- メーカー名
- ー
- 型番
- ー
- 仕様
- ・光学顕微鏡
・振とう器
・ホットプレート
・試料研磨
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
走査型プローブ顕微鏡 [Jupiter XR]
- メーカー名
- オックスフォード・インストゥルメンツ Oxford Instruments
- 型番
- Jupiter XR
- 仕様
- ・測定モード：形状測定、メカニカル測定、電気測定、磁気測定、等
・走査範囲：90μm
・ステージ可動範囲：200mm角
・試料サイズ：最大φ8インチ
【特徴】・高速スキャン ・広域アクセス ・多様なイメージングモード ・光熱励振タッピング
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 微細加工ユニット
液中原子間力顕微鏡
- メーカー名
- ブルカージャパン株式会社
- 型番
- NanoWizard 4 XP
- 仕様
- 【AFM測定】
・測定環境：大気中、液中
・走査範囲：水平100µm、垂直15µm
・動作モード：コンタクトモード、タッピングモード、フォースカーブマッピングモード、粘弾性測定、MFM観察
【直上顕微鏡】
・観察倍率：10倍
【倒立顕微鏡】
・観察法：明視野、位相差、蛍光
・対物レンズ：10倍、40倍
【その他】
・温度制御：室温～+60℃まで
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- バイオ分析ユニット
多角度光散乱検出器（分子材料分離分析装置群）
- メーカー名
- ワイアットテクノロジー Wyatt Technology
- 型番
- DAWN HELEOS
- 仕様
- ・検出器数：8
・分子量測定範囲：200～300MDa(タンパク)、200～10MDa(直鎖高分子)
・回転半径測定範囲：10～300nm
【特徴】
・標準品を必要としない分子量の絶対測定法。
・バッチ測定、フロー測定の両方に対応。
・超音波洗浄器によりセル内の汚れ付着を防止し、安定したデータ測定を実現。
【備考】特になし
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- バイオ分析ユニット
フーリエ変換赤外分光光度計
- メーカー名
- (株)島津製作所
- 型番
- IRTracer-100
- 仕様
- ・スペクトル範囲 7800～200cm-1
・スペクトル範囲 7800～350cm-1（アタッチメントにより異なる）
・分離能 最高0.25cm-1
・SN比 最大60000:1
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- バイオ分析ユニット
プレートリーダー
- メーカー名
- 株式会社パーキンエルマージャパン PerkinElmer Japan Co., Ltd.
- 型番
- EnSight
- 仕様
- ・光源：UVキセノンフラッシュランプ
・検出器(吸光)：フォトダイオード(230-1000nm)
・検出器(蛍光)：光電子増倍管(230-850nm)
・波長選択：モノクロメーター
・プレートフォーマット：6ウェル、12ウェル、24ウェル、48ウェル、96ウェル、384ウェル
【特徴】・モノクロメーターによる任意波長の測定が可能 ・多様な測定モード（吸光/蛍光/発光/時間分解蛍光） ・温度調節機能やプレート撹拌機能を搭載
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"千現（つくば）"で検索した結果 169件
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