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誘導結合プラズマ発光分光分析装置（マルチ型・デュアルビュー）
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー株式会社
- 型番
- Agilent5800
- 仕様
- ・プラズマ観測方向；アキシャル、ラジアルに切替可
・分光器：エシェルクロス分散ポリクロメータ
・検出器：CCD検出器
・測定波長範囲：167～785 nm
・プラズマ・イオン種：Ar
・プラズマ周波数：27 MHz
・RF出力：～1.5 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
微小部蛍光X線分析装置（ORBIS PC）
- メーカー名
- アメテック株式会社
- 型番
- ORBIS PC
- 仕様
- ・X線源：マイクロフォーカス型Rh管球
・X線出力：電圧～50 kV、電流～1 mA
・X線集光部：30 μm径ポリキャピラリー
・X線検出器：液体窒素レス型SSD検出器
・測定可能元素種：Na～U
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
走査型オージェ電子分光分析装置（JAMP-9500F）
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JAMP-9500F
- 仕様
- ・ショットキー電界放射電子銃
・空間分解能：<8 nm
・加速電圧：0.5～30 kV
・照射電流：0.1～100 nA
・測定元素：Li～U
・最大試料サイズ：14 x 14 x 5 mm
・半球型アナライザー搭載
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
X線光電子分光分析装置（XPS-Quantera SXM）
- メーカー名
- アルバック・ファイ(株)
- 型番
- Quantera SXM
- 仕様
- ・走査型単色Al Kα集束X線源
・最小X線ビーム径：<10 µm
・X線源パワー：1～100 W
・エネルギー分解能：<0.5 eV（Ag 3d5/2)
・最大試料サイズ： 60 x 60 x 5 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
酸素窒素水素分析装置（ONH836）、炭素硫黄分析装置（CS844）
- メーカー名
- LECOジャパン合同会社
- 型番
- ONH836、CS844
- 仕様
- ［酸素･窒素・水素分析装置］
加熱方式：インパルス加熱
検出方式：赤外線検出方式/熱伝導度検出方式
分析範囲：
［酸素］10 ppm～3%
［窒素］10 ppm～3%（試料重量1 g時）
［水素］10 ppm～2500 ppm（試料重量1 g時）
［炭素･硫黄分析装置］
加熱方式：高周波加熱炉
検出方式：赤外線検出方式
分析範囲：
［炭素］10 ppm～6%
［硫黄］10 ppm～6%（試料重量1 g時）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
イオンクロマトグラフシステム
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- ICS1600
- 仕様
- ・ポンプ:流量設定範囲：0.05～5.00 mL/min
・電気伝導度検出器検出範囲：0～15000 µS
・デガッサ：真空脱気方式
・カラムヒーター温度設定範囲：30～60℃（室温より+5℃）
・試料収容量：1.5 mL、バイアル120本
・導入モード：フルループ、パーシャルループ、リミテッド試料、キャピラリ
・自動希釈：1:1～1:1000
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
二重収束型ICP質量分析装置（ELEMENT XR）
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- ELEMENT XR
- 仕様
- ・質量分析器：逆Nier-Johnson配置二重収束型
・検出器：イオンカウンティングファラデーカップ
・質量分析範囲：7～240 amu
・プラズマ・イオン種：Ar
・プラズマ周波数：27.1 MHz
・RF出力：～2.0 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
飛行時間型二次イオン質量分析装置（TOF-SIMS）
- メーカー名
- アルバック・ファイ(株)
- 型番
- PHI TRIFT V nanoTOF
- 仕様
- ・Biクラスターイオンビーム
・加速電圧：30 kV
・空間分解能：<100 nm（低質量分析）、<1.0 μm（高質量分析）
・質料分解能：>11,000（低質料分子イオン：SiH+等）、>15,000（高質量分子イオン：＞200 Da）
・ 深さ方向分析用スパッタビーム：Biイオン、Arイオン、またはO2イオンを選択可能
・ 2D/3D分析可能
・トリプルフォーカス静電アナライザ搭載
・トランスファーベッセル
・最大試料サイズ： φ20 x 5 mm（標準ホルダー）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業9,900円/時間
- 中小企業16,500円/時間
- 大企業33,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
マルチガス導入グロー放電質量分析システム（VG9000）
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- VG9000
- 仕様
- ・質量分析器：Nier-Johnson配置二重収束型
・イオン検出器：ファラデー検出器、イオン計数デイリー検出器
・質量分析範囲：7～240 amu
・プラズマ・イオン種：Ar、He
・液体窒素冷却型試料冷却システム
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
LC/MS/MS
- メーカー名
- AMR
- 型番
- Zaplous
- 仕様
- 【遠隔利用可】
・質量分析装置：四重極イオントラップ方式
・LC： nano LC
・タンパク質の同定
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- バイオ分析ユニット
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