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2波長CCD低温単結晶X線回折装置

メーカー名
(株)リガク
型番
VariMax DW with Saturn
仕様
・X線波長:MoもしくはCu(自動切り替え)
・高輝度X線源:試料部輝度 31 kW/mm2
・高感度・低ノイズ型CCD検出器
・角度分解能可変:カメラ長 40~115 mm
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

温度可変型粉末X線回折装置

メーカー名
(株)リガク
型番
SmartLab (9 kW) with cryostat/furnace
仕様
・高輝度X線発生装置:最大出力9 kW
・X線波長:CuKa1
・高性能1次元型半導体検出器
・試料部:試料水平型
・低温装置:2.6 K~室温(真空)
・高温装置:室温~1500℃(空気、He、N2、O2、Ar、真空)
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

粉末回折計

メーカー名
型番
RINT Ultima Ⅲ
仕様
1.RINT UltimaⅢ
2.最大出力:3 kW
3.Cu Kalpha線源
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

簡易型粉末回折計-Cu_N1

メーカー名
型番
MiniFlex600-Cu
仕様
1.MiniFlex600
2.最大出力:0.6 kW
3.Cu Kalpha線源
4.6連の自動試料交換機
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

XRD(粉末)

メーカー名
(株)リガク
型番
RINT-Ultima III
仕様
・粉末測定
・フォーカスビーム、パラレルビーム
・キャピラリーホルダー
・高温チャンバー
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

XRD(薄膜)

メーカー名
(株)リガク
型番
SmartLab
仕様
・薄膜測定
・小角散乱測定
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

誘導結合プラズマ発光(分光)分析装置(高分解能型)

メーカー名
(株)日立ハイテクサイエンス
型番
SPS3520UV-DD
仕様
分光器
・ツェルニターナ型
・光電子倍増管検出器
・測定波長範囲:L分光器185~850nm、第2分光器130~460nm
ICP光源
・アルゴンプラズマ
・出力:~1.6kW
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

XPS(X線光電子分光装置)

メーカー名
アルバック・ファイ(株)
型番
Quantum-2000
仕様
・最高エネルギー分解能 : ≦ 1.0 eV
・最高空間分解能 : ≦ 10 μm
・自動帯電中和測定
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)

メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
型番
Nicolet 4700DR
仕様
・測定レンジ:400~4000 (1/cm)
【測定モード】
・透過
・ATR
・拡散反射
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

カラーレーザー顕微鏡

メーカー名
キーエンス
型番
VK9-9700G
仕様
【測定項目】Surface roughness, Height, Thickness of transparent film
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)
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