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共用設備

共用設備検索結果

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XRD(粉末)

メーカー名
(株)リガク
型番
RINT-Ultima III
仕様
・粉末測定
・フォーカスビーム、パラレルビーム
・キャピラリーホルダー
・高温チャンバー
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

XRD(薄膜)

メーカー名
(株)リガク
型番
SmartLab
仕様
・薄膜測定
・小角散乱測定
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

XPS(X線光電子分光装置)

メーカー名
アルバック・ファイ(株)
型番
Quantum-2000
仕様
・最高エネルギー分解能 : ≦ 1.0 eV
・最高空間分解能 : ≦ 10 μm
・自動帯電中和測定
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)

メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
型番
Nicolet 4700DR
仕様
・測定レンジ:400~4000 (1/cm)
【測定モード】
・透過
・ATR
・拡散反射
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

カラーレーザー顕微鏡

メーカー名
キーエンス
型番
VK9-9700G
仕様
【測定項目】Surface roughness, Height, Thickness of transparent film
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

FIB-SEMダブルビーム装置

メーカー名
SII ナノテクノロジー(株)
型番
XVision200DB
仕様
・イオン源 Ga液体金属
・FIB加速電圧 1-30kV
・電子銃 ZrO/W熱電界放射型
機器利用単価
大学・公的機関9,000円/時間
中小企業15,000円/時間
大企業30,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

FE-SEM(SU8230)+EDX

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
SU8230
仕様
・冷陰極電界放出電子銃
・分解能:0.8 nm (15 kV) , 1.1 nm (1 kV)
・付加機能:EDX、反射電子検出器、簡易STEM(明.暗視野)
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

FE-SEM(S-4800)+EDX

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ / 堀場製作所
型番
S4800 / X-MAX 80
仕様
・加速電圧:0.5~30kV ,
・最大倍率:800k ,
・検出器:SE/BSE
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

FE-SEM(SU8000)+EDX

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ / Bruker
型番
SU8000 / Quantax FQ5060
仕様
・加速電圧: 0.5~5kV ,
・最大倍率:800k ,
・加速電圧:SE/BSE
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

ミニSEM+EDX

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ / Bruker
型番
TM3000
仕様
・反射電子観察
・最大倍率: 50000
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)
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