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共用設備

共用設備検索結果

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微細組織三次元マルチスケール解析装置

メーカー名
(株)日立ハイテクサイエンス
型番
SMF-1000
仕様
・トリプルビーム(FIB-SEM-Arイオン)装置
・FIBは最高1nmピッチで制御可能
・加工と観察を繰り返すことで3D像再構築が可能
機器利用単価
大学・公的機関9,000円/時間
中小企業15,000円/時間
大企業30,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

TEM試料作製用集束イオンビーム加工装置

メーカー名
サーモフィッシャー
型番
ThermoFisher Scios2
仕様
FIBによるTEM試料作製
FIB-SEMシリアルセクショニング, 3D-EDS, 3D-EBSD
機器利用単価
大学・公的機関9,000円/時間
中小企業15,000円/時間
大企業30,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

清浄表面組織観察FIB-SEM装置

メーカー名
カールツァイス
型番
ZEISS AurigaLaser
仕様
金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出。
機器利用単価
大学・公的機関12,000円/時間
中小企業20,000円/時間
大企業40,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

走査型電子顕微鏡

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEOL JSM-7900
仕様
金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

局所変形観察・解析電子顕微鏡(透過型電子顕微鏡)

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEOL JEM-2800
仕様
ショットキーエミッタ、加速電圧:最大200kV、大口径EDS(2x100mm2), エネルギーフィルタ (Gatan QuantumER), ASTAR(プリセッション電子回折)
機器利用単価
大学・公的機関18,000円/時間
中小企業30,000円/時間
大企業60,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

広空間・高分解能分析電子顕微鏡

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEOL ARM-300F
仕様
冷陰極電子銃、加速電圧:最大300kV、球面収差補正装置(プローブ・イメージ)、大口径EDS(2x158mm2), エネルギーフィルタ (Gatan ContinuumER), ASTAR(プリセッション電子回折)
機器利用単価
大学・公的機関30,000円/時間
中小企業50,000円/時間
大企業100,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション
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