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共用設備

共用設備検索結果

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微細組織三次元マルチスケール解析装置

メーカー名
(株)日立ハイテクサイエンス
型番
SMF-1000
仕様
・トリプルビーム(FIB-SEM-Arイオン)装置
・FIBは最高1nmピッチで制御可能
・加工と観察を繰り返すことで3D像再構築が可能
機器利用単価
大学・公的機関9,000円/時間
中小企業15,000円/時間
大企業30,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

TEM試料作製用集束イオンビーム加工装置

メーカー名
サーモフィッシャー
型番
ThermoFisher Scios2
仕様
FIBによるTEM試料作製
FIB-SEMシリアルセクショニング, 3D-EDS, 3D-EBSD
機器利用単価
大学・公的機関9,000円/時間
中小企業15,000円/時間
大企業30,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

集束イオンビーム加工装置

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
FB-2000S
仕様
・加速電圧:30kV
・マイクロサンプリング機能付属
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

清浄表面組織観察FIB-SEM装置

メーカー名
カールツァイス
型番
ZEISS AurigaLaser
仕様
金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出。
機器利用単価
大学・公的機関12,000円/時間
中小企業20,000円/時間
大企業40,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

走査型電子顕微鏡

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEOL JSM-7900
仕様
金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

単原子分析電子顕微鏡

メーカー名
FEI
型番
FEI Titan Cubed
仕様
・加速電圧80kV-300kV
・分解能70pm@300kV
・エネルギー分解能80meV@80kV
・ダブルコレクター モノクロメータ
機器利用単価
大学・公的機関12,000円/時間
中小企業20,000円/時間
大企業40,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

冷陰極電界放出形電子顕微鏡

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
HF-3000S
仕様
・加速電圧:300kV
・分解能0.2nm
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

冷陰極電界放出形ローレンツ電子顕微鏡

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
HF-3000L
仕様
・加速電圧:300kV
・液体He冷却
・磁場印加
機器利用単価
大学・公的機関9,000円/時間
中小企業15,000円/時間
大企業30,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

100kV透過電子顕微鏡

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEM-1010
仕様
・加速電圧 100kV
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション

200kV透過電子顕微鏡

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEM-2000EX
仕様
・加速電圧200kV
・CCDカメラ
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
構造材料解析ステーション
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