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多環境場対応型X線単結晶構造解析装置
- メーカー名
- リガク
- 型番
- XtaLAB SynergyCustom DW
- 仕様
- 金属・セラミックス・有機物など試料の精密結晶構造解析、電子密度解析が可能
1. X線発生装置：最大出力2.97 kW
2. X線波長：Mo Ka、Cu Ka
3. X線検出器：2次元型半導体式
4. ガス吹付型低温装置（最低：20 K、Heガス使用時）
5. ガス吹付型高温装置（最高：1073 K）
6. XRF用プローブ（最低元素：P）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
走査型硬X線光電子分光分析装置
- メーカー名
- アルバックファイ
- 型番
- PHI Quantes
- 仕様
- ・硬X線（Cr Ka線）と軟X線（Al Ka線）の単色化２線源を搭載
・ガスクラスターイオン銃(GCIB)
・加熱・冷却・電圧印加機構搭載
・トランスファーベッセル付属
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
卓上型粉末回折計-Cu_N2
- メーカー名
- リガク
- 型番
- MiniFlex600-Cu_N2
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Ka
・試料部：試料水平型
・X線検出器：1次元型半導体式
・６連自動試料交換機
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
四重極型ICP質量分析装置
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー株式会社
- 型番
- Agilent7850
- 仕様
- 1. 高周波電源部
周波数：27 MHz 出力：1600 W
2. 試料導入部
マスフローコントロールガス制御
高マトリックス対応スプレーチャンバー
ペリスタポンプ（3連）
3. インターフェース部
コーン：ニッケル、白金
4. 真空システム
3段差動排気
5. コリジョンリアクションセル
Heガス対応
6. 質量分析計
四重極型
分解能：0.3-1.0 u
質量分析範囲：2～260 u
7. 検出部
90度偏向型二次電子増倍管
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
走査プローブ顕微鏡
- メーカー名
- 日本電子株式会社
- 型番
- JSPM-5200
- 仕様
- コンタクトモード、AC モード、ノンコンタクトモードが使用可能。真空中の測定も可能。
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
２波長CCD低温単結晶X線回折装置
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- VariMax DW AFC11
- 仕様
- ・X線波長：MoもしくはCu（自動切り替え）
・高輝度X線源：試料部輝度 31 kW/mm2
・X線検出器：高感度・低ノイズ型半導体検出器PILATUS200K
・角度分解能可変：カメラ長 40～115 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
温度可変型粉末X線回折装置
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- SmartLab (9 kW) with cryostat/furnace
- 仕様
- ・高輝度X線発生装置：最大出力9 kW
・X線波長：Cu Kα1
・X線検出器：高性能1次元型半導体検出器（D/teX ULTRA 250）
・試料部：試料水平型
・低温装置：2.6 K～室温（真空）
・高温装置：室温～1500℃（空気、He、N2、O2、Ar、真空）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
高輝度・高感度型粉末X線回折装置
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- SmartLab (9 kW)
- 仕様
- ・高輝度X線発生装置：最大出力9 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：ハイブリッドピクセルアレイ検出器（HyPix-3000）
・試料部：試料水平型
・低温装置：-170 ℃～600 ℃（真空、N2）
・高温装置：室温～1000 ℃（真空）
・極点図測定
・残留応力測定
・引張応力下でのX線回折測定（最大荷重5 N）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
簡易型粉末X線回折装置
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- MiniFlex600
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
高速・高感度型粉末X線回折装置
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- SmartLab3
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力3.0 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
・試料部：試料水平型
・６連自動試料交換機
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット