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共用設備

共用設備検索結果

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イオンクロマトグラフシステム

メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
型番
ICS1600
仕様
・ポンプ: 流量設定範囲 0.05~5.00 mL/min
・電気伝導度検出器: 検出範囲 0~15000 µS
・デガッサ:真空脱気方式
・カラムヒーター: 温度設定 30~60℃(室温より+5℃)
・試料収容量:1.5 mLバイアル120本
・導入モード:フルループ、パーシャルループ、リミテッド試料、キャピラリ
・自動希釈:1:1~1:1000
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

前処理装置群

メーカー名
山田電機(株)、マイルストーンゼネラル(株)、平和テクニカ(株)、LECOジャパン合同会社、(株)コクサン、(株)アサヒ理化学製作所
型番
仕様
①マッフル炉
②マイクロ波分解
③試料切断
④試料表面研磨
⑤遠心分離
⑥温度:室温~300℃
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

二重収束型ICP質量分析装置

メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
型番
ELEMENT XR
仕様
・高周波電源部;周波数:27.1MHz 出力:2kw
・試料導入部;マスフローコントロールガス制御、ペリスタポンプ(4連)
・インターフェース部;コーン:ニッケル、白金
・真空システム;5段差動排気
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

マルチガス導入グロー放電質量分析システム

メーカー名
サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
型番
VG9000
仕様
装置本体
・二重収束型質量分析計
・磁場半径27cm
・静電アナライザー半径:38cm
・イオン源(ビン・ディスク)
真空排気系
・イオン源:(Heガス:ターボ分子ポンプ、Arガス:クライオポンプ)
・アナライザー:ターボ分子ポンプ
イオン検出器
・ファラデー検出器
・イオン計数デイリー検出器
試料冷却システム
・液体窒素冷却
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

フーリエ変換赤外分光装置

メーカー名
島津製作所
型番
IRAffinity-1S
仕様
・波数範囲:350~7800 cm-1
・最小分解能:0.5cm-1
・DLATGS検出器
・赤外顕微鏡
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

カラーレーザー顕微鏡

メーカー名
キーエンス
型番
VK9-9700G
仕様
【測定項目】Surface roughness, Height, Thickness of transparent film
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

TEM試料作製用集束イオンビーム加工装置

メーカー名
サーモフィッシャー
型番
ThermoFisher Scios2
仕様
FIBによるTEM試料作製
FIB-SEMシリアルセクショニング, 3D-EDS, 3D-EBSD
機器利用単価
大学・公的機関9,000円/時間
中小企業15,000円/時間
大企業30,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡解析ステーション

FIB-SEMダブルビーム装置

メーカー名
SII ナノテクノロジー(株)
型番
XVision200DB
仕様
・イオン源 Ga液体金属
・FIB加速電圧 1-30kV
・電子銃 ZrO/W熱電界放射型
機器利用単価
大学・公的機関9,000円/時間
中小企業15,000円/時間
大企業30,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

集束イオンビーム加工装置

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
FB-2000S
仕様
・加速電圧:30kV
・マイクロサンプリング機能付属
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡解析ステーション

清浄表面組織観察FIB-SEM装置

メーカー名
カールツァイス
型番
ZEISS AurigaLaser
仕様
金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出。
機器利用単価
大学・公的機関12,000円/時間
中小企業20,000円/時間
大企業40,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡解析ステーション
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