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イオンクロマトグラフシステム
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- ICS1600
- 仕様
- ・ポンプ: 流量設定範囲 0.05～5.00 mL/min
・電気伝導度検出器: 検出範囲 0～15000 µS
・デガッサ：真空脱気方式
・カラムヒーター: 温度設定 30～60℃（室温より+5℃）
・試料収容量：1.5 mLバイアル120本
・導入モード：フルループ、パーシャルループ、リミテッド試料、キャピラリ
・自動希釈：1:1～1:1000
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
前処理装置群
- メーカー名
- 山田電機(株)、マイルストーンゼネラル(株)、平和テクニカ(株)、LECOジャパン合同会社、(株)コクサン、(株)アサヒ理化学製作所
- 型番
- ー
- 仕様
- ①マッフル炉
②マイクロ波分解
③試料切断
④試料表面研磨
⑤遠心分離
⑥温度：室温～300℃
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
二重収束型ICP質量分析装置
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- ELEMENT XR
- 仕様
- ・高周波電源部；周波数：27.1MHz 出力：2kw
・試料導入部；マスフローコントロールガス制御、ペリスタポンプ（4連）
・インターフェース部；コーン：ニッケル、白金
・真空システム；5段差動排気
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
マルチガス導入グロー放電質量分析システム
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- VG9000
- 仕様
- 装置本体
・二重収束型質量分析計
・磁場半径27cm
・静電アナライザー半径：38cm
・イオン源(ビン・ディスク)
真空排気系
・イオン源：(Heガス：ターボ分子ポンプ、Arガス：クライオポンプ)
・アナライザー：ターボ分子ポンプ
イオン検出器
・ファラデー検出器
・イオン計数デイリー検出器
試料冷却システム
・液体窒素冷却
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
フーリエ変換赤外分光装置
- メーカー名
- 島津製作所
- 型番
- IRAffinity-1S
- 仕様
- ・波数範囲：350～7800 cm-1
・最小分解能：0.5cm-1
・DLATGS検出器
・赤外顕微鏡
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
カラーレーザー顕微鏡
- メーカー名
- キーエンス
- 型番
- VK9-9700G
- 仕様
- 【測定項目】Surface roughness, Height, Thickness of transparent film
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
TEM試料作製用集束イオンビーム加工装置
- メーカー名
- サーモフィッシャー
- 型番
- ThermoFisher Scios2
- 仕様
- FIBによるTEM試料作製
FIB-SEMシリアルセクショニング, 3D-EDS, 3D-EBSD
- 機器利用単価
- 大学・公的機関9,000円/時間
- 中小企業15,000円/時間
- 大企業30,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
FIB-SEMダブルビーム装置
- メーカー名
- SII ナノテクノロジー(株)
- 型番
- XVision200DB
- 仕様
- ・イオン源 Ga液体金属
・FIB加速電圧 1-30kV
・電子銃 ZrO/W熱電界放射型
- 機器利用単価
- 大学・公的機関9,000円/時間
- 中小企業15,000円/時間
- 大企業30,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
集束イオンビーム加工装置
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- FB-2000S
- 仕様
- ・加速電圧：30kV
・マイクロサンプリング機能付属
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
清浄表面組織観察FIB-SEM装置
- メーカー名
- カールツァイス
- 型番
- ZEISS AurigaLaser
- 仕様
- 金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出。
- 機器利用単価
- 大学・公的機関12,000円/時間
- 中小企業20,000円/時間
- 大企業40,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション