共用設備検索結果
※装置名をクリックすると詳細情報が閲覧できます
極低加速電圧電界放出形走査電子顕微鏡
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- SU8000
- 仕様
- ・冷陰極電界放出形電子銃
・二次電子分解能：1.0 nm (15 kV), 2.0 nm (1 kV)
リターディングモード：1.3nm（試料印加電圧1kV（加速電圧2.5kV））
・加速電圧：0.5～30kV
・リターディングモード
リターディングによる試料印加電圧：100v～2.0kV（加速電圧：500V～4.5kV）
・最大試料サイズ：Φ100mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- S-5500
- 仕様
- ・冷陰極電界放出形電子銃
・インレンズ方式
・二次電子分解能：0.4 nm (30kV), 1.6 nm (1kV)
・加速電圧：0.5～30kV
・低倍率モード：60～10,000，高倍率モード：800～2,000,000
・最大試料搭載可能サイズ
平面 5.0mmx9.5mmx3.5mmH
断面 最大厚み1.0mmと2.0mmのホルダー
1.0mm×7.5mm×5.0mmH
2.0mmx6.5mmx5.0mmH
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
電界放出形走査電子顕微鏡
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JSM-6500F
- 仕様
- ・電界放出形電子銃
・二次電子分解能：1.5 nm (15kV), 3.0 nm (1kV)
・加速電圧：0.5～30kV
・倍率：10～500,000
・最大試料サイズ：Φ100mm
・FE電子銃搭載
・4つのモードの二次電子像
・インレンズ方式のため超高分解能観察が可能
・EDS付属
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
走査電子顕微鏡
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JSM-6510
- 仕様
- ・Wフィラメント電子銃
・二次電子分解能：3.0 nm (30 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
・加速電圧：0.3～30kV
・倍率：5～300,000
・最大試料サイズ：Φ150mm
・Wフィラメント電子銃搭載の汎用型SEM
・操作ナビ画面にナビゲーション表示
・試料交換手順はフロー式で初めての方でも簡単に試料交換可能
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
FE-SEM（SU8230）＋EDX
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- SU8230
- 仕様
- ・冷陰極電界放出電子銃
・分解能：0.8 nm (15 kV) , 1.1 nm (1 kV)
・付加機能：EDX、反射電子検出器、簡易STEM(明.暗視野)
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
FE-SEM(S-4800)+EDX
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ / 堀場製作所
- 型番
- S4800 / X-MAX 80
- 仕様
- ・加速電圧:0.5～30kV ,
・最大倍率:800k ,
・検出器:SE/BSE
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
FE-SEM(SU8000)+EDX
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ / Bruker
- 型番
- SU8000 / Quantax FQ5060
- 仕様
- ・加速電圧: 0.5～5kV ,
・最大倍率:800k ,
・加速電圧:SE/BSE
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
ミニSEM+EDX
- メーカー名
- 日立ハイテクノロジーズ / Bruker
- 型番
- TM3000
- 仕様
- ・反射電子観察
・最大倍率: 50000
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
走査型電子顕微鏡
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JEOL JSM-7900
- 仕様
- 金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡
- メーカー名
- 日本電子株式会社
- 型番
- JSM7001F
- 仕様
- SEM:加速電圧 0.5 - 30kV
解像度 1.2nm～（二次電子像）
3.0nm～（反射電子像）
EDX:JED-2300
エネルギー分解能 133eV以下、検出可能元素 B～U
EBSD:TSL OIM
DigiView4.0, Analysis8.1
格子歪み測定プログラムCrossCourt ver.3
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション