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試料作製室装置群
- メーカー名
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- 型番
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- 仕様
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- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- マクロ材料加工ユニット
硝子工作室装置群
- メーカー名
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- 型番
- ー
- 仕様
- ー
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- マクロ材料加工ユニット
材料創製共通設備群
- メーカー名
- ー
- 型番
- ー
- 仕様
- ー
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料溶解創製ユニット
TEM試料作製用集束イオンビーム加工装置
- メーカー名
- サーモフィッシャー
- 型番
- ThermoFisher Scios2
- 仕様
- FIBによるTEM試料作製
金属・セラミクス試料の高速分析・方位マップ取得
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業9,900円/時間
- 中小企業16,500円/時間
- 大企業33,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
FIB/SEM精密微細加工装置
- メーカー名
- 日本エフイー・アイ株式会社 FEI Company Japan Ltd.
- 型番
- Helios 650
- 仕様
- 1. SIM像分解能5nm(@30kV)、最大電流65nA
2. SEM像分解能1.5nm(@1kV)、最大電流26nA
3. E-beam: 350V~30 kV、I-Beam: : 500V~30 kV
4. 試料ステージ: XY150 mm、Z10 mm、T: -9°~+57°、R: 360°
5. Ptデポ
6. サンプルリフトアウトシステム
【特徴】1.集束イオンビーム(FIB)加工が可能 2.走査型電子顕微鏡(SEM)観察が可能 3.カラム内で加工薄片をリフトアウト(マイクロサンプリング)可能,【備考】機器利用は利用前に講習が必要
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
清浄表面組織観察FIB-SEM装置
- メーカー名
- カールツァイス
- 型番
- ZEISS AurigaLaser
- 仕様
- 金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出。
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業13,200円/時間
- 中小企業22,000円/時間
- 大企業44,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
電界放出形走査電子顕微鏡(S-5500)
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- S-5500
- 仕様
- ・冷陰極電界放出形電子銃
・インレンズ型対物レンズを搭載し、超高分解能観察が可能
・加速電圧:0.5~30 kV
・二次電子像分解能:0.4 nm(加速電圧30 kV)、 1.6 nm(加速電圧1 kV)
・倍率:60~1万倍(低倍率モード)、800~2百万倍(高倍率モード)
・最大試料サイズ
平面:5.0 mm x 9.5 mm x 3.5 mm
断面:2.0 mm x 6.5 mm x 5.0 mm
・透過電子検出器(BF、DF)搭載
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
電界放出形走査電子顕微鏡(JSM-6500F)
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JSM-6500F
- 仕様
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧:0.5~30 kV
・二次電子像分解能:1.5 nm(加速電圧15 kV)、 5.0 nm(加速電圧1 kV)
・倍率:10~50万倍
・最大試料サイズ:φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・EDS付属(JED-2300)
エネルギー分解能:133 eV以下
検出可能元素:B~U
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
走査電子顕微鏡(JSM-6510)
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JSM-6510
- 仕様
- ・Wフィラメント電子銃
・加速電圧:0.5~30 kV
・二次電子分解能:3.0 nm(加速電圧30 kV)、 8.0 nm (加速電圧3 kV)、 15.0 nm(加速電圧1 kV)
・倍率:5~30万倍
・最大試料サイズ:φ150 mm
・操作ナビ画面にナビゲーション表示
・試料交換手順はフロー式で初心者でも簡単に試料交換可能
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
走査型電子顕微鏡
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JEOL JSM-7900F
- 仕様
- 金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
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