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共用設備検索結果

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極低加速電圧電界放出形走査電子顕微鏡

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
SU8000
仕様
・冷陰極電界放出形電子銃
・二次電子分解能:1.0 nm (15 kV), 2.0 nm (1 kV)
 リターディングモード:1.3nm(試料印加電圧1kV(加速電圧2.5kV))
・加速電圧:0.5~30kV
・リターディングモード
 リターディングによる試料印加電圧:100v~2.0kV(加速電圧:500V~4.5kV)
・最大試料サイズ:Φ100mm
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
S-5500
仕様
・冷陰極電界放出形電子銃
・インレンズ方式
・二次電子分解能:0.4 nm (30kV), 1.6 nm (1kV)
・加速電圧:0.5~30kV
・低倍率モード:60~10,000,高倍率モード:800~2,000,000
・最大試料搭載可能サイズ
 平面 5.0mmx9.5mmx3.5mmH
 断面 最大厚み1.0mmと2.0mmのホルダー
 1.0mm×7.5mm×5.0mmH
 2.0mmx6.5mmx5.0mmH
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

電界放出形走査電子顕微鏡

メーカー名
日本電子(株)
型番
JSM-6500F
仕様
・電界放出形電子銃
・二次電子分解能:1.5 nm (15kV), 3.0 nm (1kV)
・加速電圧:0.5~30kV
・倍率:10~500,000
・最大試料サイズ:Φ100mm
・FE電子銃搭載
・4つのモードの二次電子像
・インレンズ方式のため超高分解能観察が可能
・EDS付属
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

走査電子顕微鏡

メーカー名
日本電子(株)
型番
JSM-6510
仕様
・Wフィラメント電子銃
・二次電子分解能:3.0 nm (30 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
・加速電圧:0.3~30kV
・倍率:5~300,000
・最大試料サイズ:Φ150mm
・Wフィラメント電子銃搭載の汎用型SEM
・操作ナビ画面にナビゲーション表示
・試料交換手順はフロー式で初めての方でも簡単に試料交換可能
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

FE-SEM(SU8230)+EDX

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
SU8230
仕様
・冷陰極電界放出電子銃
・分解能:0.8 nm (15 kV) , 1.1 nm (1 kV)
・付加機能:EDX、反射電子検出器、簡易STEM(明.暗視野)
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

FE-SEM(S-4800)+EDX

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ / 堀場製作所
型番
S4800 / X-MAX 80
仕様
・加速電圧:0.5~30kV ,
・最大倍率:800k ,
・検出器:SE/BSE
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

FE-SEM(SU8000)+EDX

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ / Bruker
型番
SU8000 / Quantax FQ5060
仕様
・加速電圧: 0.5~5kV ,
・最大倍率:800k ,
・加速電圧:SE/BSE
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

ミニSEM+EDX

メーカー名
日立ハイテクノロジーズ / Bruker
型番
TM3000
仕様
・反射電子観察
・最大倍率: 50000
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (並木ファウンドリ)

走査型電子顕微鏡

メーカー名
日本電子(株)
型番
JEOL JSM-7900
仕様
金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡解析ステーション

ショットキー電界放出型走査電子顕微鏡

メーカー名
日本電子株式会社
型番
JSM7001F
仕様
SEM:加速電圧 0.5 - 30kV
  解像度 1.2nm~(二次電子像)
     3.0nm~(反射電子像)
EDX:JED-2300
  エネルギー分解能 133eV以下、検出可能元素 B~U
EBSD:TSL OIM
  DigiView4.0, Analysis8.1
  格子歪み測定プログラムCrossCourt ver.3
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション
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