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TEM試料作製用集束イオンビーム加工装置（Scios 2）
- メーカー名
- サーモフィッシャー
- 型番
- ThermoFisher Scios2
- 仕様
- FIBによるTEM試料作製
金属・セラミクス試料の高速分析・方位マップ取得
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
清浄表面組織観察FIB-SEM装置（Auriga Laser）
- メーカー名
- カールツァイス
- 型番
- ZEISS AurigaLaser
- 仕様
- 金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出。
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
走査型電子顕微鏡(JSM-7900F)
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JEOL JSM-7900F
- 仕様
- 金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
局所変形観察・解析電子顕微鏡（JEM-2800）
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JEOL JEM-2800
- 仕様
- ショットキーエミッタ、加速電圧：最大200kV、大口径EDS(2x100mm2), エネルギーフィルタ (Gatan QuantumER), ASTAR(プリセッション電子回折)
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
断面試料作製装置（SM-09020CP）
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- SM-09020CP
- 仕様
- ・イオン加速電圧：2〜6 kV
・イオンビーム径：500μm
・最大搭載試料サイズ：11 x 10 x 2 mm
・試料角度調整範囲：±5°
・ミリングスピード：100μm/hr
・使用ガス：アルゴン(6N)
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
ハイブリッドコーター（Q150RES）
- メーカー名
- クォーラムテクノロジーズ
- 型番
- Q150RES
- 仕様
- ・炭素成膜：通電加熱方式（4N-CNTワイヤーから）
・Au成膜：マグネトロンスパッタリング方式
・到達圧力：2 Pa以下
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
DPC解析システム
- メーカー名
- 有限会社HREM
- 型番
- qDPC 64bit
- 仕様
- 出力：STEM-位相差(DPC)像、STEM-位相像、位相Field Vector Map
- 料金案内
- NOF利用料金表
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡ユニット
"利用不可"で検索した結果 57件
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