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クリーンベンチ
- メーカー名
- ヤマト科学
- 型番
- ADS131RMUGZ
- 仕様
- 吹出し風速0.40～0.20m/s
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （ナノバイオ）
安全キャビネット
- メーカー名
- 三洋電機
- 型番
- MH131AJ
- 仕様
- バイオハザード対応
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （ナノバイオ）
LC-MS/MS
- メーカー名
- AMR
- 型番
- Zaplous
- 仕様
- 【遠隔利用可】
・質量分析装置：四重極イオントラップ方式
・LC： nano LC
・タンパク質の同定
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （ナノバイオ）
レーザーマイクロダイセクションシステム
- メーカー名
- ライカマイクロシステムズ
- 型番
- LMD7000
- 仕様
- ・電動正立顕微鏡 ダイオードUVレーザー(355nm)
・対物レンズ 1.25ｘ6.3ｘ10ｘ20ｘ40ｘ
・観察法 明視野、10ｘ以上は位相差
・微分干渉対応
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （ナノバイオ）
レーザー顕微鏡 [VK-9700]
- メーカー名
- キーエンス
- 型番
- VK9-9700G
- 仕様
- 【測定項目】Surface roughness, Height, Thickness of transparent film
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （ナノファブリケーション）
TEM試料作製用集束イオンビーム加工装置
- メーカー名
- サーモフィッシャー
- 型番
- ThermoFisher Scios2
- 仕様
- FIBによるTEM試料作製
FIB-SEMシリアルセクショニング, 3D-EDS, 3D-EBSD
- 機器利用単価
- 大学・公的機関9,000円/時間
- 中小企業15,000円/時間
- 大企業30,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
清浄表面組織観察FIB-SEM装置
- メーカー名
- カールツァイス
- 型番
- ZEISS AurigaLaser
- 仕様
- 金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出。
- 機器利用単価
- 大学・公的機関12,000円/時間
- 中小企業20,000円/時間
- 大企業40,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
極低加速電圧電界放出形走査電子顕微鏡
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- SU8000
- 仕様
- ・冷陰極電界放出形電子銃
・対物レンズ：セミインレンズ型
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子像分解能：1.0 nm（加速電圧15 kV）、 2.0 nm（加速電圧1 kV）、 リターディングモード：1.4 nm（照射電圧1 kV）
・リターディングモード 照射電圧：100 V～2.0 kV（加速電圧：500 V～3.0 kV）
・倍率：20～2千倍（低倍率モード）、80～80万倍（高倍率モード）
・最大試料サイズ：φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・透過電子信号（BF、擬似DF）検出
・EDS付属（Bluker FlatQUAD）
エネルギー分解能：129 eV以下
検出可能元素：B～U
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- S-5500
- 仕様
- ・冷陰極電界放出形電子銃
・インレンズ型対物レンズを搭載し、超高分解能観察が可能
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子像分解能：0.4 nm（加速電圧30 kV)、 1.6 nm（加速電圧1 kV）
・倍率：60～1万倍（低倍率モード）、800～2百万倍（高倍率モード）
・最大試料サイズ
平面：5.0 mm x 9.5 mm x 3.5 mm
断面：2.0 mm x 6.5 mm x 5.0 mm
・透過電子検出器（BF、DF）搭載
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
電界放出形走査電子顕微鏡
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JSM-6500F
- 仕様
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧：0.5～30 kV
・二次電子像分解能：1.5 nm（加速電圧15 kV）、 5.0 nm（加速電圧1 kV）
・倍率：10～50万倍
・最大試料サイズ：φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・EDS付属（JED-2300）
エネルギー分解能：133 eV以下
検出可能元素：B～U
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション