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共用設備

共用設備検索結果

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クリーンベンチ

メーカー名
ヤマト科学
型番
ADS131RMUGZ
仕様
吹出し風速0.40~0.20m/s
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (ナノバイオ)

安全キャビネット

メーカー名
三洋電機
型番
MH131AJ
仕様
バイオハザード対応
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (ナノバイオ)

LC-MS/MS

メーカー名
AMR
型番
Zaplous
仕様
【遠隔利用可】
・質量分析装置:四重極イオントラップ方式
・LC: nano LC
・タンパク質の同定
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (ナノバイオ)

レーザーマイクロダイセクションシステム

メーカー名
ライカマイクロシステムズ
型番
LMD7000
仕様
・電動正立顕微鏡 ダイオードUVレーザー(355nm)
・対物レンズ 1.25x6.3x10x20x40x
・観察法 明視野、10x以上は位相差
・微分干渉対応
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (ナノバイオ)

レーザー顕微鏡 [VK-9700]

メーカー名
キーエンス
型番
VK9-9700G
仕様
【測定項目】Surface roughness, Height, Thickness of transparent film
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
ナノテクノロジー融合ステーション (ナノファブリケーション)

TEM試料作製用集束イオンビーム加工装置

メーカー名
サーモフィッシャー
型番
ThermoFisher Scios2
仕様
FIBによるTEM試料作製
FIB-SEMシリアルセクショニング, 3D-EDS, 3D-EBSD
機器利用単価
大学・公的機関9,000円/時間
中小企業15,000円/時間
大企業30,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡解析ステーション

清浄表面組織観察FIB-SEM装置

メーカー名
カールツァイス
型番
ZEISS AurigaLaser
仕様
金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出。
機器利用単価
大学・公的機関12,000円/時間
中小企業20,000円/時間
大企業40,000円/時間
問い合わせ先部署
電子顕微鏡解析ステーション

極低加速電圧電界放出形走査電子顕微鏡

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
SU8000
仕様
・冷陰極電界放出形電子銃
・対物レンズ:セミインレンズ型
・加速電圧:0.5~30 kV
・二次電子像分解能:1.0 nm(加速電圧15 kV)、 2.0 nm(加速電圧1 kV)、 リターディングモード:1.4 nm(照射電圧1 kV)
・リターディングモード 照射電圧:100 V~2.0 kV(加速電圧:500 V~3.0 kV)
・倍率:20~2千倍(低倍率モード)、80~80万倍(高倍率モード)
・最大試料サイズ:φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・透過電子信号(BF、擬似DF)検出
・EDS付属(Bluker FlatQUAD)
 エネルギー分解能:129 eV以下
 検出可能元素:B~U
機器利用単価
大学・公的機関6,000円/時間
中小企業10,000円/時間
大企業20,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡

メーカー名
(株)日立ハイテクノロジーズ
型番
S-5500
仕様
・冷陰極電界放出形電子銃
・インレンズ型対物レンズを搭載し、超高分解能観察が可能
・加速電圧:0.5~30 kV
・二次電子像分解能:0.4 nm(加速電圧30 kV)、 1.6 nm(加速電圧1 kV)
・倍率:60~1万倍(低倍率モード)、800~2百万倍(高倍率モード)
・最大試料サイズ
 平面:5.0 mm x 9.5 mm x 3.5 mm
 断面:2.0 mm x 6.5 mm x 5.0 mm
・透過電子検出器(BF、DF)搭載
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション

電界放出形走査電子顕微鏡

メーカー名
日本電子(株)
型番
JSM-6500F
仕様
・電界放出形電子銃
・加速電圧:0.5~30 kV
・二次電子像分解能:1.5 nm(加速電圧15 kV)、 5.0 nm(加速電圧1 kV)
・倍率:10~50万倍
・最大試料サイズ:φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・EDS付属(JED-2300)
 エネルギー分解能:133 eV以下
 検出可能元素:B~U
機器利用単価
大学・公的機関3,000円/時間
中小企業5,000円/時間
大企業10,000円/時間
問い合わせ先部署
材料分析ステーション
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