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クリーンベンチ
- メーカー名
- ヤマト科学
- 型番
- ADS131RMUGZ
- 仕様
- 吹出し風速0.40~0.20m/s
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション (ナノバイオ)
安全キャビネット
- メーカー名
- 三洋電機
- 型番
- MH131AJ
- 仕様
- バイオハザード対応
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション (ナノバイオ)
LC-MS/MS
- メーカー名
- AMR
- 型番
- Zaplous
- 仕様
- 【遠隔利用可】
・質量分析装置:四重極イオントラップ方式
・LC: nano LC
・タンパク質の同定
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション (ナノバイオ)
レーザーマイクロダイセクションシステム
- メーカー名
- ライカマイクロシステムズ
- 型番
- LMD7000
- 仕様
- ・電動正立顕微鏡 ダイオードUVレーザー(355nm)
・対物レンズ 1.25x6.3x10x20x40x
・観察法 明視野、10x以上は位相差
・微分干渉対応
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション (ナノバイオ)
レーザー顕微鏡 [VK-9700]
- メーカー名
- キーエンス
- 型番
- VK9-9700G
- 仕様
- 【測定項目】Surface roughness, Height, Thickness of transparent film
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション (ナノファブリケーション)
TEM試料作製用集束イオンビーム加工装置
- メーカー名
- サーモフィッシャー
- 型番
- ThermoFisher Scios2
- 仕様
- FIBによるTEM試料作製
FIB-SEMシリアルセクショニング, 3D-EDS, 3D-EBSD
- 機器利用単価
- 大学・公的機関9,000円/時間
- 中小企業15,000円/時間
- 大企業30,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
清浄表面組織観察FIB-SEM装置
- メーカー名
- カールツァイス
- 型番
- ZEISS AurigaLaser
- 仕様
- 金属・セラミクス試料の分析・方位マップ取得。
多彩な検出器による組織情報の抽出。
- 機器利用単価
- 大学・公的機関12,000円/時間
- 中小企業20,000円/時間
- 大企業40,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
極低加速電圧電界放出形走査電子顕微鏡
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- SU8000
- 仕様
- ・冷陰極電界放出形電子銃
・対物レンズ:セミインレンズ型
・加速電圧:0.5~30 kV
・二次電子像分解能:1.0 nm(加速電圧15 kV)、 2.0 nm(加速電圧1 kV)、 リターディングモード:1.4 nm(照射電圧1 kV)
・リターディングモード 照射電圧:100 V~2.0 kV(加速電圧:500 V~3.0 kV)
・倍率:20~2千倍(低倍率モード)、80~80万倍(高倍率モード)
・最大試料サイズ:φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・透過電子信号(BF、擬似DF)検出
・EDS付属(Bluker FlatQUAD)
エネルギー分解能:129 eV以下
検出可能元素:B~U
- 機器利用単価
- 大学・公的機関6,000円/時間
- 中小企業10,000円/時間
- 大企業20,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡
- メーカー名
- (株)日立ハイテクノロジーズ
- 型番
- S-5500
- 仕様
- ・冷陰極電界放出形電子銃
・インレンズ型対物レンズを搭載し、超高分解能観察が可能
・加速電圧:0.5~30 kV
・二次電子像分解能:0.4 nm(加速電圧30 kV)、 1.6 nm(加速電圧1 kV)
・倍率:60~1万倍(低倍率モード)、800~2百万倍(高倍率モード)
・最大試料サイズ
平面:5.0 mm x 9.5 mm x 3.5 mm
断面:2.0 mm x 6.5 mm x 5.0 mm
・透過電子検出器(BF、DF)搭載
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション
電界放出形走査電子顕微鏡
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JSM-6500F
- 仕様
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧:0.5~30 kV
・二次電子像分解能:1.5 nm(加速電圧15 kV)、 5.0 nm(加速電圧1 kV)
・倍率:10~50万倍
・最大試料サイズ:φ100 mm
・反射電子検出器搭載
・EDS付属(JED-2300)
エネルギー分解能:133 eV以下
検出可能元素:B~U
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 材料分析ステーション