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平面研磨装置
- メーカー名
- マルトー
- 型番
- ダイヤラップ ML-150L
- 仕様
- ・試料研磨
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
金コーター
- メーカー名
- ー
- 型番
- JFC-1500
- 仕様
- ・Auコート
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
超音波ディスクカッター
- メーカー名
- ー
- 型番
- Model 601
- 仕様
- ・試料切断
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
TEM試料作製補助装置群（TEM試料作製装置群）
- メーカー名
- ー
- 型番
- ー
- 仕様
- ・光学顕微鏡
・t-ブタノール凍結乾燥装置：真空度；4Pa、試料台温度調節；5-50℃
・卓上多本架遠心機：遠心分離
・振とう器
・ホットプレート
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
ピックアップシステム
- メーカー名
- -
- 型番
- Pick-up System
- 仕様
- ・大気中でのサンプリング, ガラスプローブ
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 電子顕微鏡解析ステーション
AFM（原子間力顕微鏡）
- メーカー名
- SII ナノテクノロジー(株)
- 型番
- L-Trace
- 仕様
- ・測定モード：コンタクトAFM、タッピングAFM、摩擦力顕微鏡
・走査範囲：水平100 x 100 um
・最大試料サイズ： 6インチφ
・付加機能：I-V測定及びマッピング
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
走査プローブ顕微鏡
- メーカー名
- ブルカージャパン(株)
- 型番
- Nanoscope 5
- 仕様
- 【測定モード】
Contact AFM , Tapping AFM , MFM, Electro chemical , STM , Liquid-phase AFM.
【Scanner】
17µ/1.3µ
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- ナノテクノロジー融合ステーション （並木ファウンドリ）
大口径超伝導マグネット
- メーカー名
- 自家製
- 型番
- －
- 仕様
- 超伝導マグネット
・磁場：14 T
・ボア径：340 mm（室温）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 低温応用ステーション
18T汎用超伝導マグネット装置
- メーカー名
- ジャパン スーパーコンダクタ テクノロジー(株)
- 型番
- JSD-18T52
- 仕様
- ・中心磁場：18T
・ボア径：52mm
・4.2 K / 温度可変クライオスタット
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 低温応用ステーション
15T超伝導スプリットマグネット装置
- メーカー名
- ジャパン スーパーコンダクタ テクノロジー(株)
- 型番
- Teslatron H 15T Sprit pair magnet
- 仕様
- ・中心磁場：15T
・ヘルムホルツ型
・クリア径：44mm
・クリアスプリット：34mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関3,000円/時間
- 中小企業5,000円/時間
- 大企業10,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 低温応用ステーション