共用設備検索結果
さらに絞り込む
※装置名をクリックすると詳細情報が閲覧できます
誘導結合プラズマ発光分光分析装置（マルチ型・デュアルビュー）
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー株式会社
- 型番
- Agilent5800
- 仕様
- ・プラズマ観測方向；アキシャル、ラジアルに切替可
・分光器：エシェルクロス分散ポリクロメータ
・検出器：CCD検出器
・測定波長範囲：167～785 nm
・プラズマ・イオン種：Ar
・プラズマ周波数：27 MHz
・RF出力：～1.5 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
微小部蛍光X線分析装置（ORBIS PC）
- メーカー名
- アメテック株式会社
- 型番
- ORBIS PC
- 仕様
- ・X線源：マイクロフォーカス型Rh管球
・X線出力：電圧～50 kV、電流～1 mA
・X線集光部：30 μm径ポリキャピラリー
・X線検出器：液体窒素レス型SSD検出器
・測定可能元素種：Na～U
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
X線光電子分光分析装置（XPS-Quantera SXM）
- メーカー名
- アルバック・ファイ(株)
- 型番
- Quantera SXM
- 仕様
- ・走査型単色Al Kα集束X線源
・最小X線ビーム径：<10 µm
・X線源パワー：1～100 W
・エネルギー分解能：<0.5 eV（Ag 3d5/2)
・最大試料サイズ： 60 x 60 x 5 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
イオンクロマトグラフシステム
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- ICS1600
- 仕様
- ・ポンプ:流量設定範囲：0.05～5.00 mL/min
・電気伝導度検出器検出範囲：0～15000 µS
・デガッサ：真空脱気方式
・カラムヒーター温度設定範囲：30～60℃（室温より+5℃）
・試料収容量：1.5 mL、バイアル120本
・導入モード：フルループ、パーシャルループ、リミテッド試料、キャピラリ
・自動希釈：1:1～1:1000
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
二重収束型ICP質量分析装置（ELEMENT XR）
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- ELEMENT XR
- 仕様
- ・質量分析器：逆Nier-Johnson配置二重収束型
・検出器：イオンカウンティングファラデーカップ
・質量分析範囲：7～240 amu
・プラズマ・イオン種：Ar
・プラズマ周波数：27.1 MHz
・RF出力：～2.0 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
マルチガス導入グロー放電質量分析システム（VG9000）
- メーカー名
- サーモフィッシャーサイエンティフィック(株)
- 型番
- VG9000
- 仕様
- ・質量分析器：Nier-Johnson配置二重収束型
・イオン検出器：ファラデー検出器、イオン計数デイリー検出器
・質量分析範囲：7～240 amu
・プラズマ・イオン種：Ar、He
・液体窒素冷却型試料冷却システム
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
四重極型ICP質量分析装置
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー株式会社
- 型番
- Agilent7850
- 仕様
- 1. 高周波電源部
周波数：27 MHz 出力：1600 W
2. 試料導入部
マスフローコントロールガス制御
高マトリックス対応スプレーチャンバー
ペリスタポンプ（3連）
3. インターフェース部
コーン：ニッケル、白金
4. 真空システム
3段差動排気
5. コリジョンリアクションセル
Heガス対応
6. 質量分析計
四重極型
分解能：0.3-1.0 u
質量分析範囲：2～260 u
7. 検出部
90度偏向型二次電子増倍管
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
熱分析装置（TG/DTA＋DSC）
- メーカー名
- 日立ハイテクサイエンス
- 型番
- TG/DTA 6200, X-DSC7000
- 仕様
- ・温度範囲 : r.t. ～ 750°C,
・雰囲気： N2, Ar or Air
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
ゼータ電位＆粒径測定装置（ELSZ-2000ZS）
- メーカー名
- 大塚電子(株)
- 型番
- ELSZ-2000ZS
- 仕様
- ・粒径： 0.6nm～8μm
・ゼータ電位： -200～+200mV
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
紫外可視近赤外分光計（V-770）
- メーカー名
- 日本分光（株）
- 型番
- V-770
- 仕様
- ・波長範囲：190～3200nm
・バンド幅：0.4～10nm可変
・測光範囲：±3Abs
・測定対象：液体、粉体、フィルム
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
"利用不可"で検索した結果 83件