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高速・高感度型粉末X線回折装置_Cu_ASC_NS3
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- SmartLab3
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力3.0 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
・試料部：試料水平型
・６連自動試料交換機
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
多環境場対応型X線単結晶構造解析装置
- メーカー名
- リガク
- 型番
- XtaLAB SynergyCustom DW
- 仕様
- 金属・セラミックス・有機物など試料の精密結晶構造解析、電子密度解析が可能
1. X線発生装置：最大出力2.97 kW
2. X線波長：Mo Ka、Cu Ka
3. X線検出器：2次元型半導体式
4. ガス吹付型低温装置（最低：20 K、Heガス使用時）
5. ガス吹付型高温装置（最高：1073 K）
6. XRF用プローブ（最低元素：P）
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
卓上型X線回折計_Cu_SMF
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- MiniFlex600
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Kα
・X線検出器：1次元型半導体式
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
卓上型粉末回折計_Cr_SCR
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- MiniFlex600-Cr
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cr Kα
・試料部：試料水平型
・X線検出器：1次元型半導体式
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC1
- メーカー名
- (株)リガク
- 型番
- MiniFlex600-Cu
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Kα
・試料部：試料水平型
・X線検出器：1次元型半導体式
・６連自動試料交換機
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
卓上型粉末回折計_Cu_ASC_NC2
- メーカー名
- リガク
- 型番
- MiniFlex600-Cu_N2
- 仕様
- ・X線発生装置：最大出力0.6 kW
・X線波長：Cu Ka
・試料部：試料水平型
・X線検出器：1次元型半導体式
・６連自動試料交換機
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置（JXA-8500F）
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JXA-8500F
- 仕様
- ・電界放出形電子銃
・加速電圧：1～30 kV
・照射電流：10 pA ～500 nA
・測定可能元素：Be～U
・最大試料サイズ：100 x 100 x 50 mm
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
誘導結合プラズマ発光分析装置（マルチ型）（720 ICP-OES）
- メーカー名
- アジレント・テクノロジー(株)
- 型番
- 720 ICP-OES
- 仕様
- ・プラズマ観測方向：アキシャル
・分光器：エシェルクロス分散ポリクロメータ
・検出器：CCD検出器
・測定波長範囲：167～785 nm
・プラズマ・イオン種：Ar
・プラズマ周波数：40 MHz
・RF出力：～1.5 kW
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業3,300円/時間
- 中小企業5,500円/時間
- 大企業11,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
走査型オージェ電子分光分析装置（JAMP-9500F）
- メーカー名
- 日本電子(株)
- 型番
- JAMP-9500F
- 仕様
- ・ショットキー電界放射電子銃
・空間分解能：<8 nm
・加速電圧：0.5～30 kV
・照射電流：0.1～100 nA
・測定元素：Li～U
・最大試料サイズ：14 x 14 x 5 mm
・半球型アナライザー搭載
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
硬X線光電子分光分析装置（HAX-PES/XPS）
- メーカー名
- アルバックファイ
- 型番
- PHI Quantes
- 仕様
- ・硬X線（Cr Ka線）と軟X線（Al Ka線）の単色化２線源を搭載
・ガスクラスターイオン銃(GCIB)
・加熱・冷却・電圧印加機構搭載
・トランスファーベッセル付属
- 機器利用単価
- 大学・公的機関・スタートアップ企業6,600円/時間
- 中小企業11,000円/時間
- 大企業22,000円/時間
- 問い合わせ先部署
- 表面・バルク分析ユニット
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