局所変形観察・解析電子顕微鏡（透過型電子顕微鏡）
| 装置名称 | 局所変形観察・解析電子顕微鏡（透過型電子顕微鏡） |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子(株) |
| 型番 | JEOL JEM-2800 |
| 用途 | 金属・セラミクス試料のEELS,EDSによる局所分析およびマップ取得。 TEMを用いた高い分解能での方位マップ取得 |
| 仕様 | ショットキーエミッタ、加速電圧：最大200kV、大口径EDS(2x100mm2), エネルギーフィルタ (Gatan QuantumER), ASTAR(プリセッション電子回折) |
| 利用時間単位 | 日 |
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| 機器利用料金（税抜金額） |
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| 利用可能形態 |
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| マテリアル先端リサーチインフラの利用 | × |
| 問い合わせ先部署 | 電子顕微鏡ユニット |
| 設置場所 | 千現地区 先進構造材料研究棟115室 |
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