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局所変形観察・解析電子顕微鏡(透過型電子顕微鏡)

局所変形観察・解析電子顕微鏡(透過型電子顕微鏡)
装置名称 局所変形観察・解析電子顕微鏡(透過型電子顕微鏡)
メーカー名 日本電子(株)
型番 JEOL JEM-2800
用途 金属・セラミクス試料のEELS,EDSによる局所分析およびマップ取得。
TEMを用いた高い分解能での方位マップ取得
仕様 ショットキーエミッタ、加速電圧:最大200kV、大口径EDS(2x100mm2), エネルギーフィルタ (Gatan QuantumER), ASTAR(プリセッション電子回折)
利用時間単位
機器利用料金(税抜金額)
  • 大学・公的機関18,000円/時間
  • 中小企業30,000円/時間
  • 大企業60,000円/時間
利用可能形態
  • 機器利用:○
  • 技術指導:○
  • 技術代行:○
マテリアル先端リサーチインフラの利用 ×
問い合わせ先部署 電子顕微鏡解析ステーション
設置場所 千現地区 先進構造材料研究棟115室

※予約状況につきましては、お問い合わせください。

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