広空間・高分解能分析電子顕微鏡
| 装置名称 | 広空間・高分解能分析電子顕微鏡 |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子(株) |
| 型番 | JEOL ARM-300F |
| 用途 | 金属・セラミクス試料のEELS,EDSによる局所分析およびマップ取得。 高い分解能での方位マップ取得。 |
| 仕様 | 冷陰極電子銃、加速電圧：最大300kV、球面収差補正装置（プローブ・イメージ）、大口径EDS(2x158mm2), エネルギーフィルタ (Gatan ContinuumER), ASTAR(プリセッション電子回折) |
| 利用時間単位 | 日 |
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| 機器利用料金（税抜金額） |
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| 利用可能形態 |
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| マテリアル先端リサーチインフラの利用 | ○ |
| 問い合わせ先部署 | 電子顕微鏡解析ステーション |
| 設置場所 | 千現地区 先進構造材料研究棟116室 |
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