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X線光電子分光分析装置

X線光電子分光分析装置
装置名称 X線光電子分光分析装置
メーカー名 アルバック・ファイ(株)
型番 Quantera SXM
用途 ・金属、半導体、有機物等の表面分析
仕様 ・走査型単色Al Kα集束X線源
・最小X線ビーム径:<10 µm
・X線源パワー:1~100 W
・エネルギー分解能:<0.5 eV(Ag 3d5/2)
・最大試料サイズ: 60 x 60 x 5 mm
利用時間単位 時間(1h)
機器利用料金(税抜金額)
  • 大学・公的機関6,000円/時間
  • 中小企業10,000円/時間
  • 大企業20,000円/時間
利用可能形態
  • 機器利用:○
  • 技術指導:○
  • 技術代行:ー
マテリアル先端リサーチインフラの利用 ×
問い合わせ先部署 材料分析ステーション
設置場所 千現地区 精密計測実験棟 124号室

※予約状況につきましては、お問い合わせください。

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