走査プローブ顕微鏡
| 装置名称 | 走査プローブ顕微鏡 |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子株式会社 |
| 型番 | JSPM-5200 |
| 用途 | 表面構造の評価。 |
| 仕様 | コンタクトモード、AC モード、ノンコンタクトモードが使用可能。真空中の測定も可能。 |
| 利用時間単位 | 時間（1h） |
|---|---|
| 機器利用料金（税抜金額） |
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| 利用可能形態 |
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| マテリアル先端リサーチインフラの利用 | × |
| 問い合わせ先部署 | 材料分析ステーション |
| 設置場所 | 千現地区 ファインプロセス実験棟203室 |
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