二重収束型ICP質量分析装置（ELEMENT XR）
| 装置名称 | 二重収束型ICP質量分析装置（ELEMENT XR） |
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| メーカー名 | サーモフィッシャーサイエンティフィック(株) |
| 型番 | ELEMENT XR |
| 用途 | ・金属・セラミックス・有機物など溶液化可能なあらゆる試料の精密元素分析 ・溶液化した未知試料の定性分析 |
| 仕様 | ・質量分析器：逆Nier-Johnson配置二重収束型 ・検出器：イオンカウンティングファラデーカップ ・質量分析範囲：7～240 amu ・プラズマ・イオン種：Ar ・プラズマ周波数：27.1 MHz ・RF出力：～2.0 kW |
| 利用時間単位 | 時間（1h） |
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| 機器利用料金（税抜金額） |
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| 利用可能形態 |
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| マテリアル先端リサーチインフラの利用 | × |
| 問い合わせ先部署 | 表面・バルク分析ユニット |
| 設置場所 | 千現地区 ファインプロセス実験棟 317号室 |
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