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走査型硬X線光電子分光分析装置

走査型硬X線光電子分光分析装置
装置名称 走査型硬X線光電子分光分析装置
メーカー名 アルバックファイ
型番 PHI Quantes
用途 各種固体試料(合金・半導体を含む無機化合物・有機物)の表面における
・元素分析
・定量分析
・化学状態分析
仕様 ・硬X線(Cr Kα線)と軟X線(Al Kα線)の単色化2線源を搭載
・ガスクラスターイオン銃(GCIB)
・加熱・冷却・電圧印加機構搭載
・トランスファーベッセル付属
利用時間単位 時(1h)
機器利用料金(税抜金額)
  • 大学・公的機関6,000円/時間
  • 中小企業10,000円/時間
  • 大企業20,000円/時間
利用可能形態
  • 機器利用:○
  • 技術指導:○
  • 技術代行:ー
マテリアル先端リサーチインフラの利用
問い合わせ先部署 材料分析ステーション
設置場所 並木地区 MANA棟403室

※予約状況につきましては、お問い合わせください。

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