フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザー（JXA-iHP200F）
| 装置ID | NF0281 |
|---|---|
| 装置名称 | フィールドエミッション電子プローブマイクロアナライザー（JXA-iHP200F） |
| メーカー名 | 日本電子株式会社 |
| 型番 | JXA-iHP200F |
| 用途 | １．定性分析 ２．定量分析 ３．線分析 ４．マッピング ５．二次電子像および反射電子像観察 上記測定による金属，新素材，触媒，半導体などの材料開発や品質管理および地質，鉱物などの地球・宇宙科学の研究など幅広い分野で活用が可能である。 1. Qualitative Analysis 2. Quantitative analysis 3. One-dimensional elemental distribution measurement 4. Two-dimensional elemental distribution measurement 5. Secondary electron image and reflection electron image observation The above measurements can be used in a wide range of fields, including material development and quality control of metals, new materials, catalysts, and semiconductors, as well as research in earth and space sciences such as geology and minerals. |
| 仕様 | 【性能・仕様】 １．電子銃：電界放出形 ２．加速電圧1～30 kV ３．照射電10 pA-3 μA ４．測定可能元素：B-U ５．最大試料サイズ：100 x 100 x 50 mm ６．オートローダー機能 【特徴】 １．波長分散型検出器5基搭載 （分析可能元素：B-U ） ２．エネルギー分散型検出器 （分析可能元素：B-U ） ３．分光結晶：14個搭載 ４．アンチコンタミネーション設備 （O2ジェット搭載） ５。アンチコンタミネーション設備 （エバクトロン搭載） ６．任意の質量吸収係数を使用したオフ ライン定量分析が可能 |
| 利用時間単位 | 時間（1h） |
|---|---|
| 利用可能形態 |
|
| 料金案内 | NOF利用料金表 |
| マテリアル先端リサーチインフラの利用 | ○ |
| 問い合わせ先部署 | 表面・バルク分析ユニット |
| 設置場所 | 千現地区 精密計測棟121室 |
※予約状況につきましては、お問い合わせください。
- 0年0月0日
- 印刷する