透過電子顕微鏡

装置名称 | 透過電子顕微鏡 |
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メーカー名 | 日本電子(株) |
型番 | JEM2100F |
用途 | ・微細構造の観察および分析 |
仕様 | 加速電圧:200kV 分解能:0.1nm スポットサイズ:0.2nm 【付加機能】 ・EDX ・STEM ・STEM-EELS ・Ion cleaner |
利用時間単位 | 時間(1h) |
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機器利用料金(税抜金額) |
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利用可能形態 |
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マテリアル先端リサーチインフラの利用 | × |
問い合わせ先部署 | ナノテクノロジー融合ステーション (ナノファブリケーション) |
設置場所 | 並木地区 MANA棟 111号室 |
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