透過電子顕微鏡
| 装置名称 | 透過電子顕微鏡 |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子(株) |
| 型番 | JEM2100F |
| 用途 | ・微細構造の観察および分析 |
| 仕様 | 加速電圧：200kV 分解能：0.1nm スポットサイズ：0.2nm 【付加機能】 ・EDX ・STEM ・STEM-EELS ・Ion cleaner |
| 利用時間単位 | 時間（1h） |
|---|---|
| 機器利用料金（税抜金額） |
|
| 利用可能形態 |
|
| マテリアル先端リサーチインフラの利用 | × |
| 問い合わせ先部署 | ナノテクノロジー融合ステーション （ナノファブリケーション） |
| 設置場所 | 並木地区 MANA棟 111号室 |
※予約状況につきましては、お問い合わせください。