実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡（JEM-ARM200F-B）
| 装置名称 | 実動環境対応電子線ホログラフィー電子顕微鏡（JEM-ARM200F-B） |
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| メーカー名 | 日本電子(株) |
| 型番 | JEM-ARM200F-B |
| 用途 | ・TEM解析 |
| 仕様 | 【遠隔利用可】 ・照射レンズ系、結像レンズ系のそれぞれに収差補正機能を搭載 ・超高分解能（0.08 nm）を実現 ・冷陰極電子銃による低加速高分解能STEM ・加速電圧: 60, 80, 200 kV |
| 利用時間単位 | セッション（3.5h） |
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| 機器利用料金（税抜金額） |
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| 利用可能形態 |
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| マテリアル先端リサーチインフラの利用 | ○ |
| 問い合わせ先部署 | 電子顕微鏡ユニット |
| 設置場所 | 千現地区 ファインプロセス実験棟 125号室 |
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