スクール・イベント

No.3 TOF-SIMS/XPS

プログラム概要

サンプル画像1

(TOF-SIMS)アルバック・ファイ TRIFT V nanoTOF

サンプル画像2

(XPS)アルバック・ファイ Quantera SXM

 

対象

初級者

講習形式

座学と実習

開催日

(上期)2018年6月29日(金)
(下期)2019年1月17日(木)

時間

13:00~16:00

定員

10名

開催場所

千現地区

内容

TOF-SIMS及びXPSの分析法の原理や装置概要、測定上の注意点について説明し、分析事例や装置を紹介します。

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