スクール・イベント

No.3 TOF-SIMS/XPS

プログラム概要

サンプル画像1

(TOF-SIMS)アルバック・ファイ TRIFT V nanoTOF

サンプル画像2

(XPS)アルバック・ファイ Quantera SXM

 

対象

初級者

講習形式

座学と見学

開催日

2017年11月8日(水)

時間

13:00~16:00

定員

10名

開催場所

千現地区

内容

TOS-SIMS及びXPSの分析法の原理や装置概要、測定上の注意点の説明、分析事例説明、装置見学。

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