スクール・イベント

No.6 透過型電子顕微鏡による材料解析基礎と応用

プログラム概要

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JEOL JEM-2100F

対象

初級者

講習形式

座学と実習

開催日

 (上期)2018年9月20日(木)
 (下期)2018年12月13日(木)

時間

9:00~16:30

定員

2名

開催場所

千現地区

内容

透過型電子顕微鏡法の基礎と材料解析への応用について座学および実習を行います。

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